第六章电子系统的可性设计.PDFVIP

1 第六章 电子系统的可靠性设计 内 容 提 要 §6-1 元器件的选用与控制 一、元器件的失效率函数曲线和产品失效规律 二、电子元件的减额使用（降额使用） §6-2 电路与系统的可靠性设计 一、电路与系统可靠性设计的基本原则 1.最坏情况分析 二、电路边缘性能设计 2. 电路漂移分析 3. 元器件误差统计分析 2 从上述可知,系统的可靠性和其组成单元的 可靠性有相当密切的关系。对于单元的可靠 性，有的可以使用有关预计手册查出“组阁”元器 件的失效率来进行可靠性保证。 但是工程中有的产品的“组阁成员” 的可靠 性指标一概不知 （情况不明），如何办？则应 在这些“组阁成员”设计中保证。 当前最多的产品是机电一体化的产品，其 中最重要的“组阁成员”是电子系统和机械结构。 下面我们将讲它们的可靠性设计： 第六章讲电子系统的可靠性设计， 第七章讲机械结构的可靠性设计。 3 第六章 电子系统的可靠性设计 电子系统的可靠性设计主要包括： 元器件的选用与控制；电路系统的可靠性设 计；电子设备的热设计、抗辐射设计、抗静电放 电设计、电磁兼容性设计、潜电路分析、三次设 计等内容。书中介结了前三部分和最后一部分内 容。这四方面内容，我们重点讲前两部分。 §6-1 元器件的选用与控制 元器件失效对于不同的产品在不同的生产 阶段出现失效，代来的损失是极不同的。 4 例如，一个由10万件元器件组成的串联系 R 0.9 R 0.9 统，若 ，则所用每个元器件 S求 i求 6 的 。 若不合格的元器件装入系统，不但可靠性 不能满足要求，而且要付出极大的代价来维 修，如表6-1所示。 因此，首先应了解其失效规律。 5 一、元器件的失效率函数曲线和产品失效规律。 人们在很多产品的使用和试验中得到大量数 据，发现失效率函数常呈现以下曲线形式，见图6-1 。 图6-1 典型失效曲线 6 人们形象地将其称做浴盆曲线，根据 λ(t) 的变化情况明显分为三阶段： 1.早期失效期 —— 失效率很高，随时向迅 速降低见下图（a) 。 失效原因： 设计、制造、原材料缺陷。在厂内进行 筛选老练试验并剔除早期失效产品，使产品 进入偶然失效期后再交付使用。