奥林巴斯全自动清洁度分析系统BX51M型正置式金相显微镜.PDFVIP

奥林巴斯全自动清洁度分析系统 BX51M 型 正置式金相显微镜 上海西努光学科技有限公司 一、产品功能 该系统主要用于机械零件的清洁度分析以及油品分析。 将滤有污染物颗粒的滤纸放在显微镜下，利用电动扫描台在整个滤片范围内自动拍摄显微照片，通 过软件将照片自动拼接后得到整个滤片表面的完整图像。然后参照相关标准，对污染物的颜色、尺寸、 形状等参数进行分类，并对特定类型的污染物进行筛选、统计，了解零件表面或润滑油、液压油等液体 中的杂质颗粒情况，以达到控制产品质量的目的。 二、系统构成 全套设备由以下几部分组成： 1、BX51M 型正立式金相显微镜； 2 、Particle Inspector 全自动颗粒分析软件； 3、XC10 型高速数字摄像头； 4 、Maerzhause 三维扫描台； 5、外设（计算机、打印机等）； 三、技术参数 1、BX51M 1）显微镜类型：正立式金相显微镜； 2 ）放大倍数：放大12.5、25 、50、100、200 倍； 3 ）光源类型：12V100W 卤素灯； 4 ）视场数：22 ； 5 ）照明方式：反射光，柯勒照明； 6 ）观察方法：明视场、偏振光； 7 ）物镜转盘：5 孔物镜转盘； 8 ）物镜类型：平场半复消色差物镜； 型号 放大倍数 工作距离 数值孔径 CCD 成像视场大小 MPLFLN1.25X 1.25 倍 3.5mm 0.04 9.6 ×7.2mm MPLFLN2.5X 2.5 倍 10.7mm 0.08 4.8 ×3.6mm MPLN5X 5 倍 20mm 0.1 2.4 ×1.8mm MPLN10X 10 倍 10.6mm 0.25 1.2×0.9mm LMPLFLN20X 20 倍 12mm 0.4 0.6 ×0.45mm 1 上海西努光学科技有限公司 2 、Particle Inspector 全自动滤片分析软件 1) 支持三点聚焦（倾斜平面校正）或多点聚焦（曲面校正）方 式，在扫描过程中使用聚焦轴马达随时适配样品表面达到最 佳聚焦；即使是表面有皱折的滤纸也可顺利进行分析； 2) 每个主要步骤可以通过带有图标和说明文字的大按钮启动， 使用操作简便快捷； 3) 能够完整地重建扫描区域内被图像边界分割的颗粒，并进行 正确处理； 4) 结构清晰的设置能使常规工作达到最高效率 5) 既便于使用、又能够灵活地满足复杂任务的需求 6) 集成的数据库档案和创建报表功能； 7) 可以自行设置并保存工作流程的每一步对应的窗口排列； 8) 支持各种常见标准的滤片残留物评级工作 (ISO 4406, ISO 4407, ISO 16232/VDA 19, NF E 48-65, SS 2687, DAF 2005 等) ，并支持大众PV 3347 标准； 9) 包含颗粒分析功能，用于孔隙率分析，支持VW 50097 标准 （VDG P201 ）； 10) 可以用密码来保护设置，管理员可以根据不同任务的需要创建多个不同的情景模式，限制用户选 择相应的情景模式； 3、XC10 高速数字摄像头； 1）140 万有效像素，分辨率1376 x 1032； 2 ）2/3”CCD，单个像素面积6.45 ×6.45um; 3 ）半导体制冷；