【2017年整理】数显卡尺示值误差的测量结果不确定度评定.docVIP

数显卡尺示值误差的测量结果不确定度评定 1、概述： 1.1测量方法:依据JJG30-2002《通用卡尺检定规程》。 1.2环境条件：（20±1）℃ 1.3测量标准：5等量块，其长度尺寸的不确定度不大于（0、5+5L）μm（L——测量长度），包含因子为2.6。 1.4被测对象:测量范围为(0~300)mm,分度值为0.01mm的电子数显卡尺,最大允许示值误差为±0.04mm. 1.5测量过程 对于测量范围为(0~300)mm,的电子数显卡尺,测量点的分布不少于均匀分布的3点,如300mm的电子数显卡尺,其受测点为101.2、201.5 和291.8mm。被测电子数显卡尺各点示值误差以该点读数值（示值）与量块（测量标准）之差确定。 1.6评定结果的使用 在符合上述条件下的测量结果，一般可直接使用本不确定度的评定结果。 2、建立数学模型 △L= Lc – Lb + Lt 式中：△L—卡尺示值误差，mm Lc—卡尺的示值，mm Lb—量块的标称长度，mm Lt—温度偏差修正值，mm 3、列入不确定度分量（鱼刺图见附件）： 3,1卡尺示值分辩力引起的标准不确定度分量u1(Lc)； 3.2卡尺的测量重复性引起的标准不确定度分量u2(Lc)； 3.3标准量块中心长度值引起的标准不确定度分量u(Lb)； 3.4被校卡尺与量块的温度差和线膨胀系数差引起的不确定度分量u(Lt) ； 4、测量不确定度评定： 4.1、卡尺示值分辩力引起的标准不确定度分量u1(Lc) 对于0.01mm分度值的卡尺，分辩力误差估计符合均匀分布，很可靠， u1(Lc) = （0.01/2）/=2.8μm 估计其相对标准不确定度为25%，ν1(Lc) = 8 4.2、卡尺的测量重复性引起的标准不确定度分量u2(Lc) 对卡尺进行10次重复测量，计算实验标准差为s＝3.0μm u2(Lc) = 3.0μm， ν2(Lc) = 9 4.3、标准量块中心长度值引起的标准不确定度分量u(Lb) 5等3级量块的标称长度偏差允许值为± (0.80μm +16×10-6L)，(L-量块标称长度)，按均匀分布，当量块长度为291.8mm，其标准不确定度u(Lb)为： u(Lb) =3.2μm 估计其相对标准不确定度为25%，ν(Lb) = 8(不可靠性) 4.4、被校卡尺与量块的温度差和线膨胀系数差引起的不确定度分量u(Lt) 由于温度偏离引起量块中心长度的偏差值为： 1b=Lb（tb-20）αb 式中：1b： 量块中心长度修正值，μm Lb： 量块标称中心长度，mm tb ： 量块所处的实际温度，℃ αb： 量块膨胀系数， （11.5±1）×10-6℃-1 同时，卡尺的示值偏差值为： \数显卡尺示值误差的测量结果不确定度评定 1c= Lc（tc-20）αc 式中：1c： 卡尺偏差值，μm Lc： 卡尺示值，mm tc ： 卡尺所处的实际温度，℃ αc： 卡尺膨胀系数，（11.5±1）×10-6℃-1 所引起的实际尺寸偏差为： 1＝1b - 1c ＝Lb（tb-20）αb - Lc（tc-20）αc 考虑以下极限情况： 取：Lb= Lc= 291.8mm αb=12.5×10-6℃-1 αc=10.5×10-6℃-1 校准时按规程规定在(20±5)℃范围进行，估计卡尺与量块间存在0.5℃的不等温情况， 取极限情况tb = 25℃， tc = 24.5℃， 有：1＝291.8×5×12.5×10-6－291.8×4.5×10.5×10-6＝4.4μm 该量未做修正直接引入误差，视为均匀分布，则： u(Lt) = 4.4/＝2.5μm 估计其相对标准不确定度为25%，ν(Lt)＝8 5、标准不确定度一览表： 不确定度分量 不确定度来源 标准不确定度值 灵敏系数 自由度 u1（Lc） 卡尺分辩力 2.8μm 1 8 u2（Lc） 卡尺测量重复性 3.0μm 1 9 U（Lb） 量块尺寸 3.2μm -1 8 U（Lt） 卡尺和量块温度差和线膨胀系数差 2.5μm 1 8 uc(△)＝5.8μm νeff ＝∞ U95= 0.01mm 6、合成标准不确定度： u1（Lc）、u2（Lc）、u（Lb）和u（Lt）相互独立，故 ｕc(△)= 5.8μm 7、有效自由度按韦尔奇-萨特思韦特公式算得： νeff ＝∞ 8、扩展不确定度 取置信概率P = 95%，查t分布表得k95 = 1.96，故U95 = kuc 0.01mm 故出校准证书时，按下列给出： k=2，U=0.01mm或U95= 0.01mm，νeff ＝∞ 9、报告 电子数显卡尺示值误差的扩展不确定度为 U95= 0.01mm，有