可控硅故障与分析.ppt

可控硅常见故障及分析 唐咸靖 2009.11 一、可控硅故障类型 可控硅有单向和双向可控硅，我们讨论的是双向可控硅 全击穿 全断路 半击穿 （正反向阻抗不对称） 不触发 漏电 二、各类故障分析 全击穿： 阻焊机不受控制箱控 制，控制箱有报警示， 变压器始终有电，如果 有冷却水，变压器不会 烧坏，如果进行焊接， 普遍表现为电流大， “炸 点”，用万用表测量可控 硅两个主电极为通路。 全断路： 焊机没有电气通 路，变压器无电 流，焊机不能进行 焊接，控制箱有报 警指示，用万用 表测量可控硅两个 主电极为断路。 半击穿： R=0；通过变压器是直 流电，变压器空载电流 急剧增大，变压器声音 明显变大，并且有明显的 震动，即使有冷却水，变 压器也会烧毁，用万用表 测量可控硅主电极是导通 的； R=0，也会产生上述现 象，但用万用表较难判断， 只有听变压器空载声音判 断，判断方法同上。 不触发： 可控硅不触发，是指可控硅主电极用万 用表测试双向不通，而可控硅不工作， 可控硅触发极的电阻几十Ω，如果测得 的数据偏差太大，可怀疑触发极有问题。 可控硅漏电： 完好的可控硅在额定工作电压下是不漏电 的，发生漏电说明可控硅本身状况开始恶 化。可控硅漏电分为两种情况，一种是可控 硅本身漏电，另一种是冷却回路造成的漏电 （指管式冷却）。漏电可能造成焊钳对地打 火，焊钳麻手状况，这种现象容易和接地不 良混淆，排除方法是先易后难，即先查接地 后查可控硅。 几点说明： 万用表测量可控硅触发极应用R×1档， 主电极测量可用R×1K或更高档； 万用表R×1档经常是精确度较差，不同万用表R×1档测量同一电阻数据不一定相同； 不同电流档次可控硅，触发极电阻是不同的，我们使用的500-800A可控硅触发极电阻一般在几十Ω，只能作为参考值； 可控硅在全导通时用万用表测量是最准确的，可以断定损坏。所以如果可控硅不属于全导通损坏，我们经常拿到测试台上试验鉴别； 现场我们判断可控硅好坏，多数不是用万用表鉴别，而是根据焊机其他表现断定可控硅损坏可能性，然后换一个新的试一试。 以焊机其他表现断定可控硅，就是以上介绍的内容； 可控硅入厂试验分耐压试验和温升试验， 耐压试验： 1600V可控硅试验电压2000V DC，泄露小于3mA；1200V可控硅试验电压1500V DC，泄露小于3mA； 温升试验是给可控硅按额定电流通电3小时，再进行耐压试验，以判定可控硅性能。 * 1/9 2/9 3/9 4/9 5/9 6/9 7/9 8/9 9/9 * * *