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第四章：射线透照工艺 4.1透照工艺条件的选择 射线基本透照参数有射线能量、焦距、曝光量。射线透照工艺是指为达到一定要求而对射线透照过程规定的方法、程序、技术参数和技术措施，也指详细说明上述方法、程序、技术参数和技术措施的说明文件。 工艺条件是指工艺过程中的有关参数变量及其组合。射线透照工艺条件包括；设备器材条件，透照几何条件，工艺参数条件和工艺措施条件等。下面将主要介绍基本透照参数的选择及它们对射线照相质量的影响和工艺编制的原则。 3.2.1射线源和能量的选择 1.射线源的选择 射线源的选择原则首先要考滤射线源对被检工件应有足够的穿透力。对X射线来说，穿透力取决于管电压。管电压越高射线的线质越硬，在试件中的衰减系数越小，穿透厚度越大。例如100KV的 X射线高灵敏度法最大穿透力为10 mm，射线低灵敏度法最大穿透力为25 mm。 对于r射线来说，穿透力取决于射源的种类，常用的r射线源适用的透照范围Ir192 20mm-90mm（高灵敏度），10-100mm（低灵敏度法），Co60 50-150mm（高灵敏度）30-200mm（低灵敏度法）。由于放射性同位素的能量不能该变，所以不仅规定了透照厚度的上限（考虑到穿透力），同时规定了透照厚度的下限（考虑到灵敏度）。 选择射线源时必须注意到X射线和r射线照相灵敏度的差异。由工艺基础理论得知，对比度 (D，不清晰度U和颗粒度σ是左右射线影象质量的三大要素，现以Ir192为例与X射线相比较对着三大要素的影响。我们知道对比度又正比于比衬度 Cs, Cs= (/1+n，由图3-1可以看出对45mm以下的钢，用Ir192透照所得射线底片其对比度比X射线底片对比度要差的多。以25mm厚度钢为例前者要比后者的对比度低40%。对比度自然会影响到像质计灵敏度。 另外Ir192的固有不清晰度Ui…值（0.17）比400KV的X射线还大，它分别是100KV、200KV、300KV X射线Ui值的3.4倍,1.8倍,1.4倍。固有不清晰度也会影响到像质计灵敏。 由于Ir192的能量较高由此引起的胶片颗粒性-即胶片噪声也会明显增大，从而干扰薄板射线照相中小缺陷的影响显示。 除了穿透力和灵敏度外，两种设备的不同特点也是需要考虑的因素。 X射线机的特点 体积较大； 基本费用和维修费用较大； 能检测40mm以上钢厚度的大型X射线机成本很高； X射线能量可变，对各种厚度的工件均可使用最合适的能量； X射线机可用开关切断，易实施射线防护； 曝光时间较短； 所有X射线机均需电源，有的还需要水源。 r射线机的特点 源尺寸小，可用于X射线机无法接近的场合； 不需水源和电源； 运行费用低； 曝光时间长； 对薄钢工件，只有选择合适的放射性同位素源（Yb169,Tm170）才能获得较高的检测灵敏度。 综上所述选择设备的原则应是： （1） 对于轻合金和低密度的材料应选择X射线。 （2） 对于透照厚度小于5mm的钢工件应选择X射线。 （3） 对大批量的工件实施射线检测时，宜选用X射线（曝光时间短）； （4） 对于透照厚度大于150mm的钢工件，宜选用高能X射线； （5） 对于透照厚度在50-100mm的钢，如方法正确，用X射线和r射线可得到相同的灵敏度。 （6）对于透照厚度在5-50mm的钢，用X射线可获得较高的透照灵敏度，r射线源的选用则应考虑具体厚度和所要求的检测灵敏度，选择Ir192或Se75，并配合适当的胶片类型； （7）对条件困难的现场，应选用小型X射线机或r射线源； （8）焦距能满足几何不清晰度要求时，环缝的检测应尽量选用锥靶周向X射线机（中心曝光法）。对直径较小的管道焊缝，可选用焦点较小的棒阳极X射线机或小焦点r射线源； （9）用平靶周向X射线机（中心曝光法）检测环缝时，应考虑射线倾斜角度对焊缝纵向面状缺陷的检出率。 2.X射线能量的选择： 射线能量对检测的影响： 射线能量的增加，线衰减系数u减小，对比度降低； 射线能量的增加，固有不清晰度 Ui增大； 射线能量的增加，底片颗粒度增大。 三方面综合影响，射线能量的增加，其结果是射线检测灵敏度下降。 射线能量的选择原则：首先保证穿透，其次保证灵敏度。 X射线的管电压可以调节，因此使用X射线对试件照相时射线能量有多种选则。首先考虑的是足够穿透力，如能量过低穿透力不够，结果是到达底片的透射射线强度不够，造成底片的黑度不足。长时间的曝光还会增加底片的灰雾度。 但是，过高的射线能量对射线照相灵敏度有不利的影响。 (D = 0.434 G(((T/1+n。 (min＝12.4/V 另外，随着射线能量的增加，线衰减系数减小，对比度降低；；底片颗粒度也将增大，其结果是射线照相灵敏度下降。因此，从灵敏度角度考虑X射线能量的选择原则是：在保证穿透力的前提