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了解和进行USB20物理层测试
了解和进行 USB 2.0 物理层测试
应用指南
引言
涉及USB 2.0设备设计、检测和验证的工程师每天都面临着加快新产品开发周期
的压力。通过泰克完善的系列工具，设计人员可以迅速准确地执行USB实现者论
坛组织(USB-IF)推荐的所有一致性测试。
通用串行总线 (USB 2.0)是一种连接规范，它面向的是计算机外部连接的外设，以
消除打开计算机机箱、为某些设备安装所需板卡的麻烦。对用户来说，USB标准
设备意味着易用性、扩展能力和速度。
USB 2.0设备设计人员必须正确检定设计，验证是否满足行业标准，然后设备制
造商才能在包装上贴上“通过认证”的 USB-IF 标志。相应的工具集对 USB-IF
一致性测试的性能至关重要，如低速、全速和高速设备和集线器的眼图和参数测
试。
本应用指南将重点集中在了解和进行USB 2.0物理层测量和电气特性一致性测试
(电气特性和高速测试)，并讨论每种测试要求的仪器。
/usb 1
应用指南
USB 2.0 基础知识 USB 2.0 电接口测试
USB 2.0 是一种采用 4 线系统的串行总线：VBUS , D-, USB 2.0电接口测试包括信号质量、浪涌电流及下跌和
D+ 和接地。D-和D+是主要的信息载体。VBUS 为设备 衰落测试。
供电，从主机或集线器获得主电源。
信号质量测试
USB 2.0 描述的速度选项和上升时间如下：
保持信号质量是保证USB 2.0设备满足标准、获得USB
数据速率 上升时间 2.0 认证标志的关键之一。
低速(LS) 1.5 Mb/s 75 ns - 300 ns
信号质量测试包括：
全速(FS) 12 Mb/s 4 ns - 20 ns
眼图测试
高速(HS) 480 Mb/s 500 ps
信号速率
包结尾(EOP)宽度
USB 2.0设备可以自行供电(有自己的电源)，也可以由
交叉点电压范围
总线供电(通过主机获得电源)。自行供电的设备必须吸
JK 对抖动
收尽可能少的电源。USB 2.0 规范列出了这方面的测
KJ 对抖动
试。
连续抖动
上升时间
下降时间
眼图测试是唯一的、也是串行数据应用中同类第一个测
试。
信号质量测试设置对上行测试和下行测试不同。在上行
测试中，捕获从设备发送到主机的信号，而在下行测试
中，则捕获从主机发出的信号。下行测试通常在集线器
的多个端口上执行。
2 /usb
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