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上海坚融实业有限公司 网址： Shanghai Jetyoo Industrial Co.,Ltd. 广泛的测量对象： 无源元件：电容，电感，电阻，磁心，变压器，芯片组件，网络元件等阻抗参数测量。 半导体元件：变容二极管的 C-VDC 特性，晶体管或集成电路的寄生参数分析。 其他元件：PCB，继电器，开关，电缆，电池等的阻抗评估。 介质材料：塑料，陶瓷和其他材料的介电常数和损耗角评估。 磁性材料：铁氧体，非晶体和其他磁性材料的导磁率和损耗角评估。 半导体材料：半导体材料的介电常数，导电率和 C-V 特性。 液晶材料：液晶单元的介电常数，弹性常数等 C-V 特性。 可测出整个电路的各项等效参数，相当于 Q 表来使用。测量数据对研发有参考价值。 比如调整谐振滤波电路中的 L,C,R 参数，可使调谐滤波电路达到匹配，得到理想的滤波效 果。 ——Fluke LCR 全剖析 一．按键＆接口 【LOCAL】 从远程控制切换到面板操作，正在通信时请不要按此键，以免通信发生错误。 【INTERFACE】 通过 IEEE-488 或 RS-232 接口进行远程控制仪器时的参数设置。 [AUTO] 自动测量模式 屏幕上显示首项和第二项参数，串/并联等效电路。 [SER/PARA]选择串联或并联测试模式 并联模式 （Lp、Cp） 采用恒压方式测量； 而串联模式 （Ls、Cs） 采用恒流方式测量。测量时显示等效电路图为单个元器件，如 ，则该元件呈纯阻抗性。见英文说明书 P95 【这是 FLUKE 独有的功能】 通过推导证明，对于不同的损耗因数 （D）值，用串联方式测出的值与用并 联测得的有差别。但当值小于 0.03 时，串联与并联测得的值相等。 [AVERAGE] 增大平均时间指数以减小测量数值波动。再次按此键，显示初始设置的平 均时间指数。有三个平均时间等级可选，或关闭不用此功能。见说明书 P85 连续测量时测量速度可达 10 次/秒，也就是平均 100ms 就能测量一次，但由于被测元器 件不是理想元器件，测量条件等原因，仪器识别元器件的时间超过 100ms，即在 100ms 内测 量读数跳动，不能稳定下来，增大测量时间，即减慢测量速度，可获得较为准确的测量值。 这平均时间指数跟其他电桥，如安捷伦 Agilent，日置HIOKI 及国产的同惠 提供的三种测量时间模式 （FAST，NORMAL，SLOW ）原理一样，且这些电桥的具 体测量速度指标都给出，而福禄克电桥说明书没有提及；【另外，上述的电桥还 有测量次数平均值功能,而福禄克 FLUKE 电桥不具备此功能。】 凌志坚 产品经理 手机：150 0033 0092 座机：021－3139 3589 传真：021－5186 2306 邮箱：jet1718@163.com jet@ 地址：上海市闵北工业园区纪王镇周泾路 9 号 上海坚融实业有限公司 网址： Shanghai Jetyoo Industrial Co.,Ltd.