单光子探测器后脉冲概率的测量开题分析方案.docVIP

山西大学本科毕业论文（设计）开题报告 姓 名 张永信 学 号 2004274062 所在专业 光信息科学与技术 论文（设计）题目 单光子探测器后脉冲概率测量实验及结果的理论分析 选题的目的和意义： 近年来，随着量子信息学科的发展，单光子探测器（SPCM）在量子保密通讯[1-3]、分子荧光寿命测量[4, 5]、单光子源制备[6-8]等弱光探测领域中得到了广泛的应用。相比于传统的模拟信号测量方法，单光子探测器对于工作电压及环境温度的微小变化的变化不敏感，具有更高的稳定性和信噪比。但是单光子探测器在没有光子入射时，仍然会产生一定数量的计数，严重影响着其在光子计数测量，尤其是量子保密通讯中的应用。 噪声主要有两类：一类是由于热噪声和隧穿效应引起的暗计数；另一类是由于俘获载流子的再释放引起的后脉冲。暗计数率基本上与入射光强无关，而后脉冲的强度则随着入射光强的增大而增大。在计数率相对较大的实验中，如量子保密通讯中，暗计数对于测量的影响变得很微弱，如何减小后脉冲的影响就变得尤其重要。通常采用的方法为门控模式测量，即在光子到达的时才使单光子探测器的工作电压高于雪崩电压。为了设置合适的门控脉冲宽度，势必要求我们对于后脉冲的强度及时域分布进行深入了解。 随着量子信息学科的发展，单光子探测器（SPCM）的地位越来越基础而重要,精确性要求也越来越高,所以对如何减小噪声的后脉冲的这项研究也就很重要. 文献综述（国内外研究现状、研究方向、进展情况、存在问题等，并列出10篇以上所查阅的国内外参考文献，要求3000字以上）： 近年来，随着量子信息学科的发展，单光子探测技术在高分辨率的光谱测量、非破坏性物质分析、高速现象检测、精密分析、大气测污、生物发光、放射探测、高能物理、天文测光、光时域反射、量子密钥分发系统等领域有 着广泛的应用。由于单光子探测器在高技术领域的重要地位，它已经成为各发达国家光电子学界重点研究的课题之一。相比于传统的模拟信号测量方法，单光子探测器对于工作电压及环境温度的微小变化的变化不敏感，具有更高的稳定性和信噪比。1939年，Allen就使用光电倍增管测量到了单个光子[9]。Roch小组使用单光子探测器测量了单分子光子源的光子统计特性[6, 10]，并进行了自由空间量子保密通讯[3]。Gomez等测量了铷原子6S能级[4]和8S能级的寿命[5]。但是，这种工作于盖革模式的单光子探测器在没有光子入射时，仍然会产生一定数量的计数，严重影响着其在光子计数测量，尤其是量子保密通讯中的应用。 单光子探测器(SPCM)的噪声主要有两类：一类是由于热噪声和隧穿效应引起的暗计数；另一类是由于俘获载流子的再释放引起的后脉冲。暗计数率基本上与入射光强无关，而后脉冲的强度则随着入射光强的增大而增大。在计数率相对较大的实验中，如量子保密通讯中，暗计数对于测量的影响变得很微弱，如何减小后脉冲的影响就变得尤其重要。通常采用的方法为门控模式测量，即在光子到达的时才使单光子探测器的工作电压高于雪崩电压。为了设置合适的门控脉冲宽度，势必要求我们对于后脉冲的强度及时域分布进行深入了解。 后脉冲现象是导致单光子探测噪声的主要来源之一。在雪崩发生时，雪崩倍增区中的任何缺陷都有可能成为载流子的俘获中心。当有光子入射单光子探测器时，大量的电荷流过探测器的雪崩倍增区，一些载流子被这些缺陷俘获。当雪崩被抑制后，这些从缺陷中心释放出的载流子受到电场加速，它们会再次触发雪崩，产生与前一次雪崩脉冲相关联的后脉冲，在没有光子到达时会引起一次误计数。单光子探测器的后脉冲概率可以表示为不同俘获能级概率的累加。 使用时间关联单光子计数测量后脉冲，常用的方法是将单光子探测器输出的TTL脉冲同时连接到时幅转化仪的开始端和停止端，停止端信号相对于开始端信号的时间间隔通过TAC转化成与之成正比的脉冲幅度。不同幅度的电脉冲信号输入多通道分析仪（Multichannel analyzer, MCA）进行脉冲高度统计分析，得到脉冲光的自关联函数。在脉冲激光源强度稳定的情况下，使用这种开始-停止技术得到的自关联函数曲线就反映了探测器的后脉冲概率分布。 图一 实验装置图 具体的实验装置如图1所示。脉冲半导体激光器（PicoQuant，PDL 800）发出的光脉冲经过可调光衰减片衰减至每一脉冲的平均光子数为0.125后，通过透镜聚焦，进入单光子计数模块（PerkinElmer，SPCM-AQR-15，SPCM1）。SPCM1输出的电脉冲使用两根相同长度的电缆分别连接到TAC（Ortec，Model 567）的开始端和停止端。经时幅转化产生的不同幅度的电脉冲输入MCA（Ortec，Trump-Pci-2k）进行脉冲高度分析。统计测量结果使用电脑采集和处理。实验中还使用了另一个相同型号的单光子探