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LED 寿命试验系统的建立 蔡伟智， 陈晓玲， 梁 奋厦门三安电子有限公司，厦门 361009 摘 要： 介绍了 LED寿命试验系统建立过程，提出了寿命试验条件，采用科学的试验线路和连接方式，使寿命试验台不但操作简便、安全，而且试验容量大。完善的试验方案，消除可能影响寿命试验结果准确性的因素，保证了寿命试验结果的客观性和准确性。 中图分类号： TN306 文献标识码 ：B 文章编号： 1003-0107（2004）12 一．引言 ????作为电子元器件，发光二极管（ Light Emitting Diode-LED ）已出现 40 多年，但长久以来，受到发光效率和亮度的限制，仅为指示灯所采用，直到上世纪末突破了技术瓶颈，生产出高亮度高效率的 LED 和兰光 LED ，使其应用范围扩展到信号灯、城市夜景工程、全彩屏等［1］ ，提供了作为照明光源的可能性。随着 LED 应用范围的加大，提高 LED 可靠性具有更加重要的意义。 LED 具有高可靠性和长寿命的优点，在实际生产研发过程中，需要 通过寿命试验对 LED 芯片的可靠性水平进行评价，并通过质量反馈来提高 LED 芯片的可靠性水平 ［2］ ，以保证 LED 芯片质量，为此我司在实现全色系 LED 产业化的同时，并建立了 LED 芯片寿命试验系统。 二．寿命试验条件的确定 ????电子产品在规定的工作及环境条件下，进行的工作试验称为寿命试验，又称耐久性试验。随着 LED 生产技术水平的提高，产品的寿命和可靠性大为改观， LED 的理论寿命为 10 万小时，如果仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验，很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价，而我们试验的主要目的是，通过寿命试验掌握 LED 芯片光输出衰减状况，进而推断其寿命。据此我司根据 LED 器件的特点，经过对比试验和统计分析，最终规定了 0.3x0.3mm 2 以下芯片的寿命试验条件： ?????? 样品 随 机抽取，数量为 8~10 粒芯片； ?????? 工作电流为 30mA； ?????? 环境条件为室温（ 25 ℃± 5 ℃ ）； ?????? 试验周期为 96 小时、 1000 小时和 5000 小时三种。 ????工作电流为 30mA是额定值的1.5倍，是加大电应力的寿命试验，其结果虽然不能代表真实的寿命情况，但是有很大的参考价值； 寿命试验以外延片生产批为母样，随机抽取一片外延片中的 8~10 粒芯片，封装成 ф 5 单灯器件，进行为 96 小时寿命试验，其结果代表本生产批的所有外延片。 一般认为， 试验周期为 1000 小时或以上的称为长期寿命试验，其中以 1000 小时的寿命试验， GaN 产品，以外延炉每半月生产的同一光色芯片为母样，随机抽取一片外延片中的 8~10 粒芯片，封装成 ф 5 单灯器件，进行为寿命试验，其结果代表对应时期的外延片；同理， GaAs 产品以每月为一个周期； 5000 小时的寿命试验，以每半年为一个周期，并将规定形成 LED 寿命试验标准书。 ?????? 寿命试验台的设计 ????寿命试验台由寿命试验单元板、台架和专用电源设备组成，可同时进行 550 组（ 4400 只） LED 寿命试验。 ????根据寿命试验条件的要求， LED 可采用并联和串联两种连接驱动形式。并联连接形式：即将多个 LED 的正极与正极、负极与负极并联连接，其特点是每个 LED 的工作电压一样，总电流为 Σ Ifn ，为了实现每个 LED 的工作电流 If 一致，要求每个 LED 的正向电压也要一致。但是，器件之间特性参数存在一定差别，且 LED 的正向电压 Vf 随温度上升而下降，不同 LED 可能因为散热条件差别，而引发工作电流 If 的差别，散热条件较差的 LED ，温升较大，正向电压 Vf 下降也较大，造成工作电流 If 上升。虽然可以通过加入串联电阻限流减轻上述现象，但存在线路复杂、工作电流 If 差别较大、不能适用不同 VF 的 LED 等缺点，因此不宜采用并联连接驱动形式。 ????串联连接形式：即将多个 LED 的正极对负极连接成串，其优点通过每个 LED 的工作电流一样，一般应串入限流电阻 R ，如图一为单串电路，当出现一个 LED 开路时，将导致这串 8 个 LED 熄灭，从原理上 LED 芯片开路的可能性极小。我们认为寿命试验的 LED ，以恒流驱动和串联连接的工作方式为佳。 采用常见 78 系列电源电路 IC 构成的 LED 恒流驱动线路，其特点是成本低、结构简单、可靠性高；通过调整电位器阻值，即可方便调整恒流电流；适用电源电压范围大，驱动电流较精确稳定，电源电压变化影响较小［3］ 。我们以图一电路为基本路线，并联构成寿命试验单元板，每一单元板可