第06课 千分尺校准教程.ppt

千分尺 千分尺检定规程（JJG21-2008） 千分尺的检定或校准 一、范围 本规程适用于分度值为0.01mm，测量上限至500mm的外径千分尺;测量上限至25mm的板厚、壁厚千分尺；以及分辨力为0.001mm，0.0001mm，测量上限至500mm的数显外径千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。 二、概述 千分尺是由尺架、测砧、测微螺杆、测力装置、锁紧装置和读数装置等组成。如图所示： 二、概述 二、概述 二、概述 二、概述 二、概述 三、计量性能要求 1、测微螺杆的轴向串动和径向摆动 测微螺杆的轴向串动和径向摆动均不大于0.01mm。 2、测砧与测微螺杆测量面的相对偏移 测砧与测微螺杆 测量面的相对偏移量应不超过表1规定。 三、计量性能要求 表1 测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量 mm 三、计量性能要求 3、测力 千分尺的测力（系指测量面与球面接触时所作用的力）应为（5～10）N。 4、刻线宽度及宽度差 微分筒刻线宽度为（0.08～0.20）mm，固定套管上的刻线与微分筒上的刻线的宽度差均应不大于0.03mm。带刻度盘的刻线宽度为（0.20～0.30）mm，其宽度差应不大于0.05mm 三、计量性能要求 5、指针与刻度盘的相对位置 板厚千分尺刻度盘上的指针末端应盖住刻线盘短刻线长度的30%～80%，指针末端上表面至 刻线度盘表面的距离应不大于0.7mm。指针末端与刻度盘刻线的宽度应一致，差值应不大于0.05mm。 6、微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离 微分筒锥面棱边至固定套管刻线表面的距离应不大于0.4mm。 三、计量性能要求 7、微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置 当测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管纵刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于0.05mm，离线不大于0.1mm。 三、计量性能要求 8、测量面的平面度 外径千分尺测量面的平面度度应补大于0.6μm。壁厚千分尺、板厚千分尺测量面的平面度应不大于1.5 μm。数显外径千分尺测量面平面度应不大于0.3 μm。 9、数显外径千分尺的示值重复性 数显外径千分尺的示值重复性不大于1 μm。 三、计量性能要求 10、数显外径千分尺任意位置时数值漂移应不大于1 μm/h。 11 、两测量面的平面度 外径千分尺锁紧装置紧固与松开时，千分尺两工作面的平行度均应不超过表2规定。 三、计量性能要求 表2外径千分尺示值的最大允许误差及两侧量面的平面度 三、计量性能要求 板厚千分尺两测面的平行度应不超过4μm 数显外径千分尺两测面的平行度应不超过表3规定。 三、计量性能要求 表3数显外径千分尺示值的最大允许误差及两测量面的平面度 三、计量性能要求 12 示值误差 外径千分尺示值的最大允许误差应不超过表2规定。 壁厚千分尺、板厚千分尺示值的最大允许误差应不超过±8μm。 数显外径千分尺示值的最大允许误差应不超过表3规定 对于测量上限大于150mm的千分尺可只检测微头示值误差，测微头各点相对零点的示值最大允许误差不超过±3μm。 三、计量性能要求 13 数显外径千分尺细分误差 数显外径千分尺数显装置的细分误差应不超过±2μm。 14 校对用的量杆 14.1外径千分尺校对用的量杆 外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量应不超过表4规定。 三、计量性能要求 表4 外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量 三、计量性能要求 14.2 数显外径千分尺校对用量 数显外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量应不超过表5规定。 三、计量性能要求 表5 数显外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量 四、通用技术要求 1 外观 1.1 千分尺及其校对用的量杆不应有碰伤、腐蚀，带礠或其他