电子产品测试系统中单片机通用智能测试接口设计与应用.docVIP

电子产品测试系统中基于单片机的通用智能测试接 在电路设计和调试中，对设计单元电路的性能进行实时测试是必不可少的环节。很多情况下，需要通过计算机的比较和分析，来测试设计的电路的性能是否达到要求。标准的出现自动测试系统。然而，由于复杂多样，接口类型千变万化，，设计连接和测试的通用测试接口则是简化集成开发，提高仪互换软件移植性和系统性价比的有效手段。本文探讨通用测试接口的与实现方法。TC89C51RC/RD+系列STC89C51RC/RD+系列单片机的优点： 超强抗干扰,轻松过 4KV 快速脉冲干扰(EFT) 高抗静电(ESD)，6KV静电可直接打在芯片管脚上 中断优先级可设置成4级(IP,IPH) 可在系统编程无需编程器（ISP）方便软件升级。 2.同时使用Keil C51作为单片机的软件开发工具，KEIL C51标准C编译器为8051微控制器的软件开发提供了C语言环境,同时保留了汇编代码高效,快速的特点，所以Keil C51针对51内核，代码效率很高1: 1。通用测试接口　　通用采用开关网络-待测模块匹配器-总控制部-总线连接部分。 组成如图1 1.1本系统分为5个部分 资源连接器：作用是把待测信号经过整理和规范化后和测试资源连接起来。 网络开关部分：作用是把输入的各种待测信号，按照测试要求切换到不同的测试信道上。 匹配器：作用是根据不同