第6章节 光的干涉.pptVIP

用单色光垂直照射在观察劈尖干涉的装置上，当上平面玻璃垂直向上缓慢平移而远离下平面玻璃时， 可以观察到这些干涉条纹 （A）向右平移，条纹间距不变。 （B）向右平移，条纹间距变小。 （C）向左平移，条纹间距不变。 （D）静止不动。 [ C ] 演示： 劈尖干涉 例: 在半导体元件生产中，为了测定硅片上SiO2薄膜的厚度，将该膜的一端腐蚀成劈尖状，已知SiO2 的折射率n =1.46，用波长? =5893埃的钠光照射后，观察到劈尖上出现9条暗纹，且第9条在劈尖斜坡上端点M处，Si的折射率为3.42。试求SiO2薄膜的厚度。 Si SiO2 O M 解：由暗纹条件 e = (2k+1)? /4n ?= 2ne = (2k+1）? /2 (k=0,1,2…) 知,第9条暗纹对应于k =8,代入上式得 = 1.72(?m) 所以SiO2薄膜的厚度为1.72?m。 例:二块玻璃板之间垫一细金属丝?空气劈尖,可以用来测量微小物体的直径。实验装置如图所示。玻璃板出现干涉条纹,量出干涉明纹30条的距离 S=4.295?10-3m, L=2.888 ?10-2m。求:D 解:30条明纹有29个明纹间距，每个间距为?L， 例: 利用空气劈尖的等厚干涉条纹可以检测工件表面存在的极小的加工纹路，在经过精密加工的工件表面上放一光学平面玻璃，使其间形成空气劈形膜，用单色光照射玻璃表面，并在显微镜下观察到干涉条纹， a b 如图所示，试根据干涉条纹的弯曲方向，判断工件表面是凹的还是凸的；并证明凹凸深度可用下式求得 ： 用平晶检查量块平面度 如果被检表面是平的，那么空气层厚度相同的各点就位于一条直线上，产生的干涉条纹就是平行的(如图乙)； 如果观察到的干涉条纹如图丙所示，A、B处的凹凸情况可以这样分析： 甲 A B 由丙图知，P、Q两点位于同一条亮纹上，故甲图中与P、Q对应的位置空气层厚度相同。由于Q位于P的右方(即远离楔尖)，如果被检表面是平的，Q处厚度应该比P处大，所以，只有当A处凹陷时才能使P与Q处深度相同。同理可以判断与M对应的B处为凸起。 A B A B 所以: a b 由图中相似直角三角形有: ?h b a ?h ek-1 ek 工件表面是凸的 光源 透镜 显微镜 平玻璃 平凸透镜 反射镜 三、牛顿环 1.实验装置及现象 用波长为?的单色平行光垂直照射，结果观察到一系列明暗相间的同心圆环，这一现象首先被牛顿观察到，故称牛顿环。 演示： 牛顿环 { 明 暗 几何关系: Re，e2 2Re 2.牛顿环公式 曲率半径 空气 o A B 透镜 平板玻璃 e ?略去e2 [ B ] 如图，用单色光垂直照射在观察牛顿环的装置上，当平凸透镜垂直向上缓慢平移而远离平面玻璃时， 可以观察到这些环状干涉条纹 （A）向右平移,（B）向中心收缩, （C）向外扩张,（D）静止不动, （E）向左平移. rk ek rk ek rk减小， 演示： 牛顿环上下移 解： 例：空气改为充以某种液体时，第10个明环直径由 1.41?10-2m，变为1.27 ?10-2m。求液体的折射率。 3.牛顿环的应用 测透镜球面的半径R ：已知?, 测 m、rk+m、rk，可得R。 测波长? ：已知R，测出m 、 rk+m、rk， 可得?。 例：用紫光照射，借助于低倍测量 显微镜测得由中心往外数第 k 级明环 的半径rk=3.0?10-3m,k 级往上数 第16 个明环半径rk+16=5.0?10-3m, 平凸透镜的曲率半径R=2.50m。 求：紫光的波长？ 解：根据明环半径公式： 以其高精度显示 光测量的优越性 一、点光源照明时的干涉条纹分析 L f P 0 r环 e n? n? n n? r A C D · 2 1 S i i i i 光束1、2的光程差： 得 · 膜厚均匀（e不变） · 又 · B · §6.4 薄膜干涉 （二） — 等倾条纹 （equal inclination fringes） i相同的光线对应同一条干涉条纹 — 等倾条纹 即倾角 当k ( k?) 一定时， i也一定， 或 明纹 暗纹 * 波动光学 光的干涉 第6章 光学研究光的传播以及它和物质相互作用。 通常分为以下三个部分： 几何光学： 以光的直线传播规律为基础， 波动光学： 研究光的电磁性质和传播规律， 量子光学： 以光的量子理论为基础， 研究各种成象光学仪器的理论。 是干涉、衍射、偏振的理论和应用。 物质相互作用的规律。 主要 研究光与 特别 波动光学和量子光学，统称为物理光学。 §6.3 薄膜干涉（一） — 等厚条纹 §6.1 光的相干性 杨氏双缝干涉 §6.2 光程与光程差 §6.4 薄膜干涉（