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  • 2017-10-13 发布于天津
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受激发射损耗显微技术sted

受激发射损耗显 微技术(STED) ——BY 裴学璐 STED 德国物理学家:斯特凡·赫尔 马克斯·普朗克生物物理化学研究所所长 德国癌症研究中心高分辨率光学显微技术部门主任 研发受激发射损耗显微技术 (Stimulated Emission Depletion) 2014年诺贝尔化学奖得主 STED 1 2 3 4 1 2 3 4 基本原理 损耗光斑调制 光源选择 应用 目录 STED 衍射极限 STED 基本原理 Q:如果你有一只粗芯,怎样才能用它在纸上画细线? A:买块橡皮,先画粗线,再用橡皮将粗线条擦细 STED 基本原理 STED 损耗光斑调制 How to get ? STED 损耗光斑调制 方法:损耗光路的横向上的平移 优点:光路简单 缺点:光斑在横向上有拖尾现象,抑制效果不佳,分辨率提高不显著 相位板 0/ π 位相板 z轴 焦面前后 0/ π 位相板 x/y方向 线偏振光 0~2π 涡旋位相调制 面包圈型中空损耗光斑 圆偏振光 STED 损耗光斑调制 三维STED超分辨实现 STED 损耗光斑调制 在样品处进行光强的非相干叠加 180°位相差-干涉相消 方法一: 方法二: 脉冲光源VS连续光源 STED 光源选择 脉冲光源 激发、损耗时域可分离,消光过程易控 相同的平均功率下,峰值光强更高 需展宽和同步的光学器件,光路复杂 连续光源 峰值

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