纳米颗粒粒度分析的新进展---cps高速离心式纳米粒度分析仪.pdfVIP

ANKERSMID 安米德 纳米颗粒粒度分析的新进展 CPS 高速离心式纳米粒度分析仪 熊向军 xiong@ 荷兰安米德上海代表处，上海市中山西路1800 号5B，200235 1. 测量原理 CPS 纳米颗粒粒度分析仪的示意图见图 1，它采用的是差示沉淀法进行颗粒粒度的测量和分析。样 品被注入到高速旋转的液体中，然后在离心力的作用下，样品被快速沉淀并通过检测头被检测并拾 取。因为大小不同的颗粒到达检测头的时间不同，因此通过记录颗粒到达检测头的时间，就可以知 道颗粒的大小，差式沉淀法的原理图如图 2 所示。 图 1 CPS 纳米颗粒粒度分析仪示意图 斯托克斯定律（Stokes’ Law）描述了颗粒在液体中的沉淀速度V 的表达式： V = D² (ρ - ρ) G / 18 η P F 式中: D 颗粒直径 ρP 颗粒的密度 ρF 液体的密度 G 等效重力加速度 η 液体粘度 图 2 差示沉淀示意图 根据斯多克斯定律，如果颗粒在液体内的一个重力场中沉淀，沉淀速度与颗粒粒度直径的平方成正 比，因此粒度相差百分之几的颗粒之间都会有非常显著的沉淀速度差。在差示沉淀法中，所有颗粒 以一个薄带的方式进行沉淀。如果颗粒大小相同，他们将以同样的速度沉淀并以一个薄带的形式同 时到达检测头。颗粒到达检测探头的时间即可用于计算颗粒的大小。粒度分布较宽的颗粒在沉淀过 程中就会在圆盘上形成一个较宽的条带，而含几种较窄分布的颗粒的混合物就会在圆盘上形成几个 明显不同的窄带，他们会在不同的时间到达检测头。CPS 颗粒粒度仪可以分析介于 5 纳米和 75 微米 的颗粒，从斯多克斯定律可知，实际分析范围取决于颗粒和分散介质的密度差。 荷兰安米德有限公司上海代表处 上海市中山西路 1800 号逃丰环球大厦 5 楼 B 座 邮编200233 电话：021-6440 3331，6440 3332 传真：021-6440 1102 shanghai@ ANKERSMID 安米德 2 ．研发历史 CPS 纳米粒度分析仪经历了近 30 年的研发，离心速度从初始的 7200 转/分增加到了 24000 转/分，他 的发展过程的里程碑为： 开始设计和研发第一台圆盘离心式粒度分析仪，转速达到 1974 7200rpm 1993 转速达到 ， 转分 10 000 / 1997 转速达到 ， 转分 18 000 / 2000 转速达到 ， 转分 24 000 / 高转速的直接好处就是可以分析的颗粒越来越小，而且对于大小接近的颗粒的分辨能力也大大加强， 如图 3 所示，对于 0.1 和 1 微米如此狭窄粒度范围内的 3 个不同的峰值，CPS 系统都可以清晰地分 辨出来，CPS 系统在一般情况下可以分辨粒度差别小于 5 ％的颗粒，最小可分辨的粒度差为2 ％，这 比同类其他分析方法的精度都要高很多。 图3 优秀的颗粒分辨性能 因为转速很高，CPS 进行颗粒粒度分析的灵敏度也很高，即使只有 10－6 克样品，CPS 也能得到一个 准确的粒度分布结果。样品最低可检量为 10－8 克（0.01 微克），也就是痕量级的颗粒也可以被检测 出来。得益于如此高的灵敏度，对于微克级的样品进行常规分析也变得可行。 3 ．标定 CPS 标定颗粒的大小是通过直接物理测量方法校正过的，而且标定颗粒都与美国标准和技术研究院 NIST 的其它标准进行过交叉对比，确保均值、峰值宽度或者半峰宽度等方面的误差在 ± 2%之内。 直径小于 10 微米的标定颗粒通常以悬液的形式保存在水中，