快闪式记忆体FlashMemory相关研究-微电子试验室-国立清华大学.DOC

 緣起 可提供之合作研究及服務項目 所需求規格元件之設計及製程設計 元件技術開發所需之測試鍵及IP 元件之特性量測及模式建立 元件之可靠性分析 其它與元件相關之疑難雜症之偵測與解決 獲得經費之補助 贊助單位 期間 研究項目 研究經費 誌謝 本實驗室感謝下列公司及單位慷慨提供技術或資源贊助: 國科會 國家毫微米實驗室 工研院電子所 華邦電子公司 立生半導體司 台灣積體電路公司 茂矽電子公司 茂達電子公司 漢磊科技公司 美國PMC公司 本實驗室感謝諸位先進不吝指導: Dr. T.H.Ning (IBM Fellow, US NAE member) Prof. T.P.Ma (Yale University) 莊紹勳 教授 (國立交通大學電子工程學系) 鄭晃忠 教授 (國立交通大學電子工程學系) 研究人員 指導教授：徐清祥博士，金雅琴博士 共同指導學者專家: 楊青松博士，廖明吉博士， 趙天生博士，鄭晃忠博士 博士生：周秀芬，林瑞霖，廖崇維，王彥森， 李海明，陳家興，董易瑜，洗立人， 郭東政，卓煜盛 碩士生：林詩芸，李茂麟，田浩倫，林偉捷， 蔡宏平，李昆鴻，張欽鴻，吳孟益， 陳福元，蕭立亭，胡凌彰， 賴成孝，林樹森 儀器設備 通用I-V測試站 設備名稱 型號 數量 Semiconductor Parameter Analyzer HP4145B 1 Precision Semiconductor Parameter Analyzer HP4056A 1 Module DC Source/Monitor HP4142A 1 Source/Monitor Unit HP41421B 2 50MHz Dual Channel Pulse Generator HP8115A 1 150MHz Dual Channel Pulse Generator HP8110A 1 100V/2A Pulse Generator HP8114A 1 Digitizing Oscilloscope HP54504A 1 20Hz~1MHz Precision LCR Meter HP4284A 1 PA Meter/DC Source HP4140B 1 SMU and Pulse Generator Expander HP41501A 1 高功率元件測試站 設備名稱 型號 數量 High Current Source/Monitor Unit HP41422A 1 High Voltage Source/Monitor Unit HP41423A 1 Power Generator GPR-3010HD 1 100V/2A Pulse Generator HP8114A 1 150MHz Dual Channel Pulse Generator HP8110A 1 Semiconductor Parameter Analyzer HP4145B 1 Digitizing Oscilloscope HP54504A 1 快閃記憶體測試站 名稱 型號 數量 50MHz Dual Channel Pulse Generator HP8115A 1 150MHz Dual Channel Pulse Generator HP8110A 1 Digitizing Oscilloscope HP54504A 1 Module DC Source/Monitor HP4142A 1 Source/Monitor Unit HP41421B 2 Switch/Control Unit HP3488A 2 Switch Matrix HP44473A 2 光感測元件測試站 名稱 型號 數量 50MHz Dual Channel Pulse Generator HP8115A 1 Digitizing Oscilloscope HP54504A 1 Switch/Control Unit HP3488A 2 Precision Semiconductor Parameter Analyzer HP4056A 1 100V/2A Pulse Generator HP8114A 1 Autoranging Picoammeter KIETHLEY 485 1 SMU and Pulse Generator Expander HP41501A 1 Power Generator GPR-3010HD 1 成果簡介 快閃記憶體(Flash Memory)相關研究 快閃記憶體是利用將電子注入或拉出懸浮閘(floating gate)以進行資料儲存的非