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XPS 测试分析 幻灯片
浅谈XPS的测试与数据分析 张亚平 XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy), 能够分析出了氢,氦以外的所有元素。测定精确到 0.1at%, 空间分辨率为 100um, X-RAY 的分析深度在 1.5nm 左右。 XPS 的样品一般是 10mm*10mm*5mm, 也可以更小些。厚度不能超过 5mm. XPS 分析室的真空度可以达到10-9 Pa, 因此样品要干燥,不能释放气体。XPS的灵敏度很高,待测样品表面,绝对不能用手,手套接触,也不要清洗。 XPS 实验结果如何分析 XPSpeak 软件,或者 origin XPS 手册 C. D. Wagner, W. M. Riggs, L. E. Davis, et al., Handbook of X-ray photoelectron spectroscopy [M], (G. E. Muilenberg, editor) Perkin Elmer Corporation (Physical Electronics), 1979 网络数据库/database/elementxps.php XPS分峰 计算表面元素含量 用所有分峰面积加和做总面积,除以灵敏度因子,如一个元素如 Si 2p 有两个峰,把每一个人的峰面积相加,然后除以灵敏度因子。 计算元素相对含量 XPS 与 EDX 在分析表面元素方面有什么区别 XPS 不光可以分析出何种元素,什么含量,还可以知道该元素是何种价态,比如金属表面,可以知道它是否被氧化,生成物是什么;而 EDX 只能知道何种元素,各元素含量。 XPS 一般采样深度为几个纳米,如果用角分辨 XPS 可以到十几个纳米,用深度剖析可以达到几百个纳米;一般 EDX 打入的深度只有零点几到几个微米。 谢谢大家,欢迎批评指正! * 简介 原理 这方面很多书上都介绍了,归根结底就是一个公式: E(b)= hv-E(k)-W E(b): 结合能(binding energy) hv: 光子能量 (photo energy) E(k): 电子的动能 (kinetic energy of the electron) W: 仪器的功函数(spectrometer work function) 通过测量接收到的电子动能,就可以计算出元素的结合能。 铝靶:hv=1486.6 eV 镁靶:hv=1253.6 eV 应用 由于元素的结合能是唯一标识的,因而我们可以用 xps 作: (1)组成样品的元素的标定 (2)各元素含量的计算 (3)元素的侧向分布 (4)化学态标定 (5)测量超薄(小于 5 纳米)样品的厚度 *
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