《现代材料分析技术》第三章多晶体分析方法.pptVIP

第二篇 X射线衍射 第三章 多晶体分析方法 ◆ 粉末照相法（德拜-谢乐法） ◆ X射线衍射仪 §3-1德拜-谢乐法 德拜法及爱瓦尔德图解 ◆ 德拜相的拍摄---相机构造 德拜相的拍摄---底片安装 德拜相的拍摄---试样制备 1)????? 试样: 粉末圆柱体0.8mm×10mm, 粉末颗粒10－5 --- 10－3cm. 2）试样制备: 材料→研磨成粉→过筛→退火去应力;用涂胶水的玻璃丝在粉末上均匀滚动或将粉末充填于0.5mm的非晶毛细石英管中. 德拜相的拍摄--规程的选择 ?1）X射线管阳极元素：Z靶＝Z试样＋１ ?2）滤波片：滤波片原子序数低于靶元素原 序数1(Z靶＜40)，或低2(Z靶≥40)的元素 3）管电压：临界电压的3~5倍 3） 管电流：额定功率的除以管电压 4）曝光时间：依材料而定。 §3-2 X射线衍射仪 ◆　X射线仪的基本组成 ◆ X射线测角仪 ◆ 探测与记录系统 ◆　X射线衍射的常规测量 ◆　实验参数的选择 X射线衍射仪已广泛应用于科研、生产部门，并在主要的的测试领域取代了照相法。本节介绍我们使用较多的广角衍射（3-160°）。对于小角衍射（用于大分子晶体和微观尺寸）和单晶四圆衍射不多做介绍。 X射线衍射仪一般由X射线发生器、测角仪、辐射探测器、记录单元或自动控制单元。测角仪是其核心部分。 ◆ X射线测角仪 ◆ X射线测角仪----构造 ◆ X射线测角仪----衍射几何 满足布拉格方程: 试样置于测角仪中心,绕中心轴连续转动,使瞬时dHKL、λ、θ三者满足布拉格关系的(HKL)产生衍射线.试样由低角度到高角度转动,使所有能参与衍射的晶面衍射 　　 连动: 试样表面处在入射线和衍射线的反射位置上,确保狭缝光阑、探测器处于衍射方向,接收相应晶面的衍射线. 聚集圆: 入射线管焦斑S、被照射的试样表面MON、反射线的会聚点F(狭缝光阑)位于同一聚集圆上,确保反射线在F点聚焦接收 注: 多晶体中晶粒取向混乱,在入射线照射到试样表面的大量晶粒时,只有那些平行于试样表面、满足布拉格方程的晶面产生衍射线,而且反射是瞬时的.而其它晶面虽满足布拉格方程,但与试样表面不平行,产生的衍射线不能会聚于狭缝光阑而接收.可见衍射仪接收的衍射线强度小于德拜法. ◆ X射线测角仪----试样 根据聚集圆原理,试样应为与圆相吻的弧面,实际上为制造方便,采用平板试样.将粉末试样放在20mm×15mm×2mm的样品框中,填平、压紧、刮平.粉末颗粒大小适中,过粗难压紧成型,且照射的颗粒少,衍射强度不稳定.过细使衍射线宽化,并妨碍弱线的出现. ◆ X射线测角仪----光学布置 ◆探测与记录系统-----探测器 正比计数管（PC） 闪烁计数管(SC) 固体检测器(SSD) 位敏正比计数管 ■　正比（气体电离）计数管（PC） 入射光子与惰性气体碰撞,使气体电离成电子和 正离子,电子在电场的作用下向阳极加速运动,高 速运动电子又使气体电离,再产生电子向阳极运 动,如此循环下去,每个 光子产生大量的电子涌 向阳极----雪崩效应--- 可探测的脉冲电流---- 电压脉冲信号输出. ■ 闪烁计数管(SC) X射线激发磷光体发射可见光.一个光子照 射到铊活化的碘化钠单晶体,产生一闪光,闪 光碰撞光敏阴极材料,产生很多电子,其中每 一电子经光电倍增管的10联极(每个联极递 增100V正电压),产生106—107个电子,结果 在联极的末端产生一脉冲电流,经外电路转 化为电压脉冲 ◆探测与记录系统---计数测量 计数测量中的主要电路 ◆探测与记录系统---计数器 1. 定标器(间歇式): ①定时计数法:设定时间内,接收电压脉冲数,求出单位时间光子数(CPS) ②定数计时法:设定脉冲数,测定计数时间,求出单位时间光子数(CPS) 2.计数率仪(连续式) 经RC电路计数计时同时进行测量单位时间的脉冲 数，并转化为平均直流电压值(与平均脉冲速率 成正比)输出,再由电子电位差计绘出平均直流电 压值与衍射角变化曲线,即衍射图. ◆X射线衍射的常规测量--连续扫描 该法效率高,精度差,用于物相定性分析.采 用计数率仪计数,试样与计数管以1:2角速 转动, 计数管以一定的扫描速度,从起始角 向终止角扫描.记录每一瞬时衍射角的衍射 强度,绘制衍射图. 主要参数: ①扫描起始角 、终止角 . ②扫描速度 :… ◆X射线衍射的常规测量—阶梯扫描 该法采用定标器计数,速度慢、精度高,常用于精确测定衍射峰的积分强度、衍射角.计数器在较小角度范围内,