主流DSP存储器测试方法学习指南：TI KeyStone.pdf

主流 DSP 存储器测试方法学习指南：TI KeyStone 本文选自电子发烧友网6 月《智能工业特刊》Change The World 栏目，转载请注明出处！ 存储器相关的问题是DSP 应用中非常普遍的问题。本文介绍KeyStone I 系列DSP 上 一些存储器测试的方法。 1 KeyStone DSP 存储器系统简介 KeyStone DSP 存储器架构如图 1 所示。 图1 KeyStone DSP 存储器架构 对不同的DSP，存储器的大小可能不同，DSP 核和EDMA 传输控制器的个数也可能 不同。表 1 比较了KeyStone I 系列中常用的3 颗DSP。 表 1 KeyStone I 存储器系统比较 2 存储器测试算法 本文介绍几种存储器测试算法，并讨论这几种算法的用途。 2.1 数据测试 下面是数据测试的伪代码： for （memory range under test ） fill the memory with a value ; for （memory range under test ） read back the memory and compare the readback value to the written value 通常，这个测试会被执行几次，每次填充的值不一样。常用的填充值包括0， 0xAAAAAAAA， 0， 0xCCCCCCCC， 0x0F0F0F0F ， 0xF0F0F0F0 ， 0x00FF00FF ，0xFF00FF00FF00 ， 0xFFFFFFFF ， 0 。 这个测试可以用来检测数据比特粘连（bit-stuck ）问题，例如，如果， written value = 0 ， readback value = 0x8， 表示bit 3 粘连到1. 如果 written value = 0xFFFFFFFF ， readback value = 0xFFFFFFFE， 表示bit 0 粘连到0. 如果能正确的写入并读出0 （或0xAAAAAAAA），说明相邻的两个比特没 有粘连；如果能正确写入并读出0 （或0xCCCCCCCC ），说明相邻的4 个比 特没有粘连；如果能正确写入并读出0x0F0F0F0F （或0xF0F0F0F0 ），说明相邻的8 个 比特没有粘连… 这个算法既可以用来测试数据总线连接，也可以用于测试存储器单元。当用于测试存储 器单元时则每一个存储单元都需要写读所有的值，这将是比较耗时的测试；而用于测试数据 总线连接时，只需要把所有的值都写读一遍就可以了（地址不限）。 2.2 地址测试 地址测试的伪代码如下： for （memory range under test ） fill each memory unit with its address value; for （memory range under test ） read back the memory and compare the readback value to the written value 这个测试可以用来检测地址比特粘连（bit-stuck ）问题。例如，如果 written value = 0 at address 0 written value = 1 at address 1 written value = 2 at address 2 written value = 3 at address 3 …… readback value = 2 at address 0 readback value = 3 at address 1 readback value = 2 at address 2 readback value = 3 at address 3 …… 则说明地址线的比特1 粘连，因为地址0，2