波长色散T射线荧光分析的新发展-分析测试中心.PDF

第 卷 第 期 岩 矿 测 试 ! !! 345E!!+4E ! ! ! ! 年 月 ! ! ! ! ! ! ! ! ! ! ! ! ! ! ! ! ! ! ! ! ! ! ! ##$ %! ’() *+, -.+/*0*+*012.2 ,7879:7;!##$ ## 文章编号! # 仪器与技术 # # #!=$!##$#=#$%%=# 波长色散 射线荧光分析的新发展 T 北京岛津科学仪器中心 摘要!除了继续发展波长色散 射线荧光分析装置在主!次量元素分析上高精度!高稳定性的固有特点之 g !! 外进一步提高灵敏度使分析范围扩展到痕量分析#开拓微区面分布的元素成像分析#进一步对传统分析困难的 轻元素和中!重金属元素的探讨开发新的高级次谱线分析方法#适应新材料特别是纳米材料的分析要求对薄膜 分析的开拓等方面已经有了长足的发展$在介绍商品化的分析装置方面的发展状况的同时对无标样分析的基 本参数法目前发展状况也做了介绍$ 关键词!波长色散 g射线荧光分析#微区面分布的元素成像分析#高级次谱线分析方法#薄膜分析#无标样 分析的基本参数法 在新的世纪!为了适应新的科学研究领域的要求!分析 本上杜绝了g射线管易于损坏的可能性!使仪器更加可靠’ !! 仪器在不断地发展’波长色散g射线荧光分析除了继续保 持和发展其在主(次量元素分析上高精度(高稳定性的固有 # 微区面分布的元素成像分析 ! 特点之外!在进一步提高灵敏度!使元素分析范围扩展到痕 也是在 年开始!商业厂家开始研发波长色散 射 %CC g 量领域%开拓微区面分布的元素成像分析%进一步对传统分 线荧光微区面分布的元素成像分析 ’从当时的 %99 分 析困难的轻元素和中(重金属元素的探讨!开发新的高级次 ? 析束斑!发展到现在最新的 !# 9 分析束斑成像能力 ’ ! 谱线分析方法%适应新材料特别是纳米材料的分析要求!以 同时还可以装备 ((, 光学成像定位和进行样品实物像比 及对薄膜分析的开拓等方面!已经有了长足的发展’本文