对应工业环境测定标准工业环境评价标准修订X射线衍射装置XRD.PDF

对应工业环境测定标准・工业环境评价标准修订 X 射线衍射装置 XRD-6000 环境测定包 适于工业环境中的游离硅以及石棉的定性・定量分析。 在劳动安全卫生法中，关于因劳动者在工作中的暴露而对 其造成健康损害的 92 种物质，规定必须实施其作业环境的 测定。其中，粉尘中的游离硅以及石棉的定性・定量分析可 以使用X 射线衍射装置。最近因相关法规的修订，对有害 物质的管理浓度、分析程序进行了修改。 本测定包配备了依据「基底标准吸收校正法」的样品台和 定量软件，这不仅是使用 X 射线衍射装置 XRD-6000 对收集 在滤纸上的工业环境测定中的游离硅、石棉进行定性分析 需要的，在这些微量样品的定量分析中也是必备的。 游离硅的定性・定量分析 工业环境测定中矿物性粉尘的管理浓度为按以下公式计算出的量。（从 2005 年 4 月 1 日开始实行） E=3.0/（0.59Q+1） （参考）修订前E=2.9/（0.22Q+1） E：管理浓度mg/m3 Q：游离硅含有率（%） 所以知道粉尘中游离硅酸的含有率是很重要的。游离硅种类有石英、微晶物、鳞石英等。 在此回修订中，首先规定使用 X 射线衍射装置掌握含有什么种类的游离硅 （定性分析），根据其定性 结果，以使用磷酸法或 X 射线衍射装置的基底标准吸收校正法进行定量。 下图表示这些游离硅的衍射模式，分别具有各自的特征峰，因此，易于识别其种类。 目标物质的衍射 X 射线强度因受基底物质吸收的影响，必须进行校正。为进行校正必须求得基底物质 的X 射线吸收系数。可在一次的测定中将其完成的方法就是 「基底标准吸收校正法」。本测定包包括 采用了此基底吸收校正法的专用定量分析软件。 各種游离硅的衍射模式 石棉的定性・定量分析 关于石棉，在 2005 年 7 月实施了【石棉伤害预防规则】。适用此规则的建材等样品，如果其石棉含 量超过重量 5％左右以上，则可使用 X 射线衍射装置以标准添加法或内标添加法对采集来的样品进行 定量，但对于少于上述含量的样品有时不能进行定量。 此时，作为只溶解样品基底成分的前处理方法，实施甲酸前处理法，然后使用 X 射线衍射装置以基底 标准吸收校正法进行定量。 在石棉的定性・定量分析中，也可使用配备有基底标准吸收校正法的环境测定样品台的X 射线衍射装 置 XRD－6000 环境测定包。 各种石棉的衍射模式 石棉主要有蛇纹石类的纤蛇纹石，角闪石类的铁直闪石、虎睛石等。使用 X 射线衍射法利用它们的特 征峰进行定量分析。 环境测定包 配置 1. X 射线衍射装置 XRD-6000（2kW,NF Cu 管球） 1 套 2. 石墨单色仪（CM-3121） 1 套 3. 环境测定样品台（RS-2001） 1 套 【规格】 ・旋转样品台 ・基底标准吸收校正用滤片架（Zn） ・环境定量软件 4. 冷却水循环装置 1 套