治具式在线测试机1220-hioki-日置.pdfVIP

在线测试机 新产品 1220 1220-50 / 1220-51 / 1220-52 / 1220-55 经年品牌 值得信赖经年品牌 值得信赖 2 测量模式的广泛范围 将1220-50作为控制器使用，在ICT测试结 束后无需重组系统即可在同一治具上进行 动态测试。 测量模式的广泛范围 电流测量功能 FET动态测试 IC待机电流测量 1220-5X支持MOS-FET和J-FET测量。 在电流测量模式中(CURR-CV) ，不需要外部电源 FET动作状态测试 或其他发生器，1220的DC板上就可产生电压和电 流。 根据元件的运行状态进行判定。 FET PASS/FAIL 的判定是通过在对MOS-FET或 目标板 1220测试仪 J-FET栅极施加闭合和开路电压时，测量漏极和源极 高电位 之间的电压电流来确定的。(支持Nch和Pch装置。) A 低电位 0.1 to 12 V 电流测试电路板图 测试电流 测试电流 I2C支持 设备之间的信息传送(选件) PASS/FAIL判定是根据断路电 PASS/FAIL 判定是根据断路 流和导通电阻值确定的。 电流和测量电流值(IDSS)确 为满足如手机等低功率消耗设备中要求降低待机时 定的。 漏电流的需求，1220-5X配备I2C控制和漏电流测试 功能。 测量数据的分析和管理 使用 I2C总线可控制被测板上的 IC 。通过Ratoc System公司的 I2C控制器， 1220可向目标装置数 多通道测试 据，校对写入的数据并生成控制器DIO输出。 这个功能在将目标装置置于待机模式后可使用CURR- 1220-5X在大量测试点之间高速切换完成测试，可使 CV模式用来测量泄漏电流。 测试每固定时间间隔自动开始。 紧密数据采集解决方案可用在恒温箱上。 *I2C是一个广泛用于手机和嵌入式系统的串行总线