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第二届南京大学地球科学电子微束分析短训研讨班EPMAandSEM
第二届南京大学地球科学电子微束分析短训研讨班
EPMA and SEM Short Course and Symposium 2015
November 29 – December 3, 2015
Instructors: Dr. John Foiurnelle, University of Wisconsin at Madison
Dr. Donggao Zhao, University of Texas at Austin
Date and time: Lecture: 8:00 am – 12:00 pm
Lab: 2:00 pm – 5:00 pm
Course Objective:
This short course is an introduction to electron probe microanalysis and microscopy (EPMM)
techniques, including electron probe microanalysis (EPMA) and scanning electron microscopy
(SEM). Lectures on theoretical background, applications and recent advances are supplemented
by hands-on lab demonstration sessions using JEOL JXA-8100 EPMA, JEOL JSM-6490 SEM
(attached with Oxford EBSD system), and Zeiss Supra55SEM (attached with Oxford SDD EDS
detector and Gatan MonoCL4 system) housed in School of Earth Sciences and Engineering,
Nanjing University.
Tentative Lecture Topics
11 月 29 日——报到（14:00-20:00）地点：江苏省体育局训练中心宾馆
11 月 30 日：EPMA(I)+ SEM(I) （微束分析原理、样品制备及图像观察）
开幕词 院长讲话 王汝成教授 8:00-8:15
(1) Introduction to electron gun, lenses.
电子枪和透镜介绍。
(2) Beam-sample interaction, signals generation,
Lecture 1 Donggao Zhao 8:15-9:00
and detectors.
电子束与样品之间的相互作用，信号的产
生和各种探头介绍。
(1) WDS spectrometers; sample preparation
Lecture 2 Donggao Zhao 9:00-9:45
波谱仪及样品的前期准备工作。
茶歇（含合照） 9:45-10:10
(1) SE and BSE imaging and its controlling
factors, distortion and artifacts, ESEM charge
neutralization an
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