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PV测试方法简介
PV测试方法简介
中科院电工所
主要内容
电流-电压(IV)特性测试
光谱响应(量子效率)测试
少子寿命测试
反射光谱测试
电容-电压测试
薄膜厚度测试
拉曼测试
一、IV测试
太阳电池的电路特性:
图1 太阳电池的电路模型,蓝色虚线内表示太阳电池的等效电路
IL:光生电流
ID:二极管饱和暗电流
Rsh:并联电阻
Rs:串连电阻
图3 不同串连电阻得出的IV测试结果
一、IV测试
串、并联电阻的影响
图4 不同并连电阻得出的IV测试结果
文献:Antonio Luque,Steven Hegedus,Handbook of Photovoltaic Science
and Engineering,Wiley Inc
一、IV测试
串、并联电阻的影响:在不同光强下测试ISC和VOC,得出下图
结论:
1:串连电阻减少了短路电流
2:并连电阻减少了开路电压
3:二极管的品质因子A0,值一般在1~2之间,二极管主要在准中性区域复合为1,在耗尽区域复合为2。
4:饱和暗电流I0
图5 ISC及VOC关系曲线
文献:Antonio Luque,Steven Hegedus,Handbook of Photovoltaic Science
and Engineering,Wiley Inc
一、IV测试
R
V
V
Variable supply
V
V
Variable supply
暗IV特性:恒温,蔽光
电池在正向电压下工作,因此研究pn结的正向特性很重要。得出I0和品质因子n。
二极管的暗电流密度I0通过2-二极管模型描述为:
光照IV特性:直接反映电池的输出功率
标准条件:AM1.5,温度25oC,光源的标定(辐射计或者标准电池)
需要温度测试或者控温
图6 典型的I-V测试结构图,上图为暗IV测试,下图为光照IV测试
IV测试
模拟光源
Reference:
K.A. Emery, Solar cells 18 (1986) 251-260
各种模拟光源及AM1.5的比较
R.J. Matson, Solar cells 18 (1984) 105-145
一、IV测试
典型的测试结果:
文献:Antonio Luque,Steven Hegedus,Handbook of Photovoltaic Science
and Engineering,Wiley Inc
J = Jsc – J0
(superposition principle)
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