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PV测试方法简介

PV测试方法简介 中科院电工所 主要内容 电流-电压(IV)特性测试 光谱响应(量子效率)测试 少子寿命测试 反射光谱测试 电容-电压测试 薄膜厚度测试 拉曼测试 一、IV测试 太阳电池的电路特性: 图1 太阳电池的电路模型,蓝色虚线内表示太阳电池的等效电路 IL:光生电流 ID:二极管饱和暗电流 Rsh:并联电阻 Rs:串连电阻 图3 不同串连电阻得出的IV测试结果 一、IV测试 串、并联电阻的影响 图4 不同并连电阻得出的IV测试结果 文献:Antonio Luque,Steven Hegedus,Handbook of Photovoltaic Science and Engineering,Wiley Inc 一、IV测试 串、并联电阻的影响:在不同光强下测试ISC和VOC,得出下图 结论: 1:串连电阻减少了短路电流 2:并连电阻减少了开路电压 3:二极管的品质因子A0,值一般在1~2之间,二极管主要在准中性区域复合为1,在耗尽区域复合为2。 4:饱和暗电流I0 图5 ISC及VOC关系曲线 文献:Antonio Luque,Steven Hegedus,Handbook of Photovoltaic Science and Engineering,Wiley Inc 一、IV测试 R V V Variable supply V V Variable supply 暗IV特性:恒温,蔽光 电池在正向电压下工作,因此研究pn结的正向特性很重要。得出I0和品质因子n。 二极管的暗电流密度I0通过2-二极管模型描述为: 光照IV特性:直接反映电池的输出功率 标准条件:AM1.5,温度25oC,光源的标定(辐射计或者标准电池) 需要温度测试或者控温 图6 典型的I-V测试结构图,上图为暗IV测试,下图为光照IV测试 IV测试 模拟光源 Reference: K.A. Emery, Solar cells 18 (1986) 251-260 各种模拟光源及AM1.5的比较 R.J. Matson, Solar cells 18 (1984) 105-145 一、IV测试 典型的测试结果: 文献:Antonio Luque,Steven Hegedus,Handbook of Photovoltaic Science and Engineering,Wiley Inc J = Jsc – J0 (superposition principle)

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