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基于VISA库及SCPI命令的仪器程控测量.pdf
2011年6月1日 现代电子技术 Jun．2011
ModernElectronics V01．34No．11
第34卷第11期 Technique
基于VISA库及SCPI命令的仪器程控测量
秦 凡，韦 高
(西北工业大学电子信息学院，陕西西安 710129)
摘
集。为了省去仪器测量中重复而复杂的手工操作和计算，避免人为误差，提高测量效率，以VisualC+十6．0为开发平台，应
系统。通过使用该系统对材料的相对介电常数进行测量可以发现，该系统操作简单，且测量精度高。
关键词：VISA库函数；SCPI命令；程控测量；矢量网络分析仪
中图分类号：TN98-34 文献标识码：A 文章编号：1004—373X(2011)11—0118-03
Instrument MeasurementBasedonVISAandSCPI
Program—controlled
Gao
QINFan，WEI
ofElectronicsand
(School In{ormation，NorthwesternPolytechnicalUniversity，Xi’an710129，China)
isastandardinterfacesoftware VXI alliance。SCPIisstandard
Abstract：VISA I／O systems
developedby plugplay
commandsfor instruments．Inordertoavoid calculationand measurement
programmable complicate improve efficiency，the
theAntritsu andSCPIinVisualC++6．0 LANisdis—
ofthe whichcontrol 2028BVNAwithVISA
design program through
ofautomatic is andis used．Sothe isworth and
cussed．Thedesign measuringsystemsimple widely program referencingap—
for whoworkonautomatictest．
plyingprogrammers
network
Keywords：VISA；SCPIinstruction；program-controlledmeasurement；VNA(vectoranalyzer)
作系统和编程语言无关，只需要很小的修改，就可以从
0 引 言
一个平台移植到另一个平台。
随着现代科学技术的发展，自动化技术在计量领域 在应用中，VISA库随软件一起保存在计算机系统
得到了广泛应用，自动化测试系统省去了重复而复杂的
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