数电实验正文.docVIP

实验一 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 一、 实验目的 1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法 2、掌握TTL器件的使用规则 3、熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法 二、实验设备与器材 1、数电实验箱 2、数字万用表 3、74LS20，10K电位器 三、实验原理 1、与非门的逻辑功能 2、TTL与非门的主要参数： (1) 高，低电平输出电流, (2) 高，低电平输入电流,　 (3) 扇出系数 (4) 电压传输特性 (5) 平均传输延迟时间　 　74LS20主要电参数表2-1 　　　　参数名称和符号 规范值 　单位 　　　　测试条件 直 流 参 数 导通电源电流 ＜14 mA 截止电源电流 ＜7 mA 低电平输入电流 ≤1.4 mA 高电平输入电流 ＜50 UA ＜１ mA 输出高电平 ≥3.4 Ｖ 输出低电平 ＜0.3 Ｖ 扇出系数 4～8 V 交流 参数 平均传输延迟时间 ≤20 ns 四、实验内容 在合适的位置选取一个14P插座，按定位标记插好74LS20集成块。 　 4输入与非门74LS20逻辑功能测试电路图 1、 验证TTL集成与非门74LS20的逻辑功能 2、74LS20主要参数的测试表　 （1）按真值表逐个测试与非门的逻辑功能，并把结果记录下表 A1 Ｂ1 Ｃ1 Ｄ1 Ｙ1 １ １ １ １ ０ １ １ １ １ ０ １ １ １ １ ０ １ １ １ １ ０ （2）按电路图连线并逐个测试与非门的静态参数 ｍA ｍA ｍA ｍA nS 注意：正确使用万用表电流档，选择好档位并串接入电路 （3）按电路图连线，测试与非门的传输特性并把结果记录下表 Ｖi（V） ０.２ ０.４ ０.６ ０.８ １ １.５ ２ ２.５ ３ ３.５ ４ Ｖo（V） 注意：正确使用万用表电压档，选择好档位并且并接入电路 五　实验报告 1、记录，整理实验结果，并对结果进行分析。 2、画出实测的电压传输特性曲线，并从中读出各有关参数值。 六、注意事项 1、安全用电。 2、实验前，先连线再通电，实验后，先切断电源后再拔线。 3、按TTL器件的使用规则正确操作，以防损坏器件。 4、正确使用万用表各档位，避免损坏或烧坏。 实验二　ＣＭＯＳ集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 一、实验目的 1、掌握CMOS集成门电路的逻辑功能和器件的使用规则。 2、掌握CMOS集成门电路主要参数的测试方法。 二、实验设备与器材 1、数电实验箱 2、双踪示波器 3、数字万用表 4、CC4011，CC4001，CC4071，CC4081，100K电位器，1K电阻。 三、实验原理 1、CMOS集成门电路的主要优点是： （1）功耗低， （2）输入阻抗高，驱动电流小， （3）传输特性好， （4）电源电压范围广， 2、CMOS门电路的逻辑功能， 3、CMOS与非门的主要参数， 4、CMOS门电路的使用规则， (1) Vdd接电源正极，Vss接电源负极，不得接反。 (2) 所有输入端一律不准悬空。 (3) 输出端不允许直接与Vdd或Vss连接，否则将导致器件损坏。 (4) 在装接电路，改变电路连接，或插拔电路时，均应切断电源，严禁带电操作。 (5) 焊接，测试时应注意：电路应放在导电的容器内，有良好的静电屏蔽； 焊接时必须切断电源，电烙铁外壳必须接地良好，或拔下烙铁，用余热焊接； 所有的测试仪器必须接地良好。 四、实验内容 1、 CMOS与非门CC4011参数测试， (1) 测试CC4011一个门的，，，值。 2、 验证CMOS各门电路的逻辑功能，判断其好坏。与非门逻辑功能图2-1 图2-1 与非门逻辑功能测试 3、 观察与非门，与门，或非门对脉冲的控制作用 图2-2 与非门对脉冲的控制作用 五、实验报告 1、整理实验结果，用坐标纸画出传输特性曲线。 2、根据实验结果，写出各门电路的逻辑表达式，并判断被测电路的功能好坏。 六、注意事项 1、安全用电。 2、实验前，先连线再通电，实验后，先切断电源后再拔线。 3. 按CMOS器件的使用规则正确操作，以防损坏器件。 4、示波器输出端不允许短路。 实验三 组合逻辑电路的设计与测试 一、实验目的 掌握单元电路、组合逻辑电路的设计、及其测试方法 二、实验设备与器材 全加器、译码器、编码器、数码显示器、选择器、门电路等。 三、实验原理 使用中、小规模集成电路来设计组合电路是最常见的逻辑电路。设计组合电路的一般步骤是： (1)