第8章2 AD与DA 变换器接口.pptVIP

量化单位Δ（1 LSB） 量化过程中，取样电压不一定能被Δ整除 → 原理性误差，无法消除 n↑ → ↓ 量化过程采用两种近似量化方式： 只舍不入： → 量化单位 1 LSB 四舍五入： → 量化单位 LSB * 8.1.4 A/D与D/A变换器接口 2、模拟到数字(A/D)变换器 2）技术指标 精度 量化误差 * 8.1.4 A/D与D/A变换器接口 2、模拟到数字(A/D)变换器 2）技术指标 精度 量化误差 量化过程采用两种近似量化方式： 只舍不入： → 量化单位 1 LSB 四舍五入： → 量化单位 LSB 0000 001 010 011 100 0 1 2 3 4 0001 0010 0011 0100 0101 0110 0111 1000 000 * 8.1.4 A/D与D/A变换器接口 2、模拟到数字(A/D)变换器 2）技术指标 精度 非线性误差 非线性 偏移 （零点漂移） 输入 输出 0 10V 255 Analog Input Digital Output * 8.1.4 A/D与D/A变换器接口 2、模拟到数字(A/D)变换器 2）技术指标 精度 电源、温度、零点漂移、参考电压 ADC中的运放 ADC * 8.1.4 A/D与D/A变换器接口 2、模拟到数字(A/D)变换器 2）技术指标 变换时间AD574KD：35μs ms 级 ～ ns 级选ADC时，其变换时间应小于采样周期。 输入动态范围 单极性 双极型输入 0～10V －5V～＋5V 0～20V －10V～＋10V * 8.1.4 A/D与D/A变换器接口 2、模拟到数字(A/D)变换器 3）芯片及应用 AD574： 12位ADC，8/16位微处理器接口，最大转换时间：35μs ① 引线 AD574 ADC0809 * 忙 模拟量输入 数字量输出 AGND DGND * 8.1.4 A/D与D/A变换器接口 2、模拟到数字(A/D)变换器 3）芯片及应用 ① 引线 输入 0～10V、－5V～＋5V（10VIN） 0～20V、－10V～＋10V（20VIN） 输出：DB0～DB11 电源 模拟: ±12V/ ±15V(Pin7, Pin11)、AGND、 Ref In、Ref Out(＋10V)、BIP(偏置电压输入) 数字: ＋5V、DGND(Pin1, Pin15) AD574 CS：Chip Select CE：Chip Enable STS：Status（忙） 12/8： 8位读时接低电平（地） A0： Byte Address / Short Cycle R/C： Read / Convert * 8.1.4 A/D与D/A变换器接口 2、模拟到数字(A/D)变换器 3）芯片及应用 ① 引线 表8.6 AD574控制功能状态表 AD574 CE CS R/C 12/8 A0 功能说明 1 0 0 x 0 12位转换 1 0 0 x 1 8位转换 1 0 1 ＋5V x 12位输出 1 0 1 地 0 高8位数据输出 DB4～DB11 1 0 1 地 1 低4位数据输出 DB0～DB3 * 8.1.4 A/D与D/A变换器接口 2、模拟到数字(A/D)变换器 3）芯片及应用 ② 工作时序 AD574 图8.30 AD574的工作时序 CS CE R/C A0 忙 STS DB0～DB11 启动 读 8位 12位 读低4位 读高8位 12/8=0 12/8=1，一次输出，与A0无关 忙 数据 * 8.1.4 A/D与D/A变换器接口 2、模拟到数字(A/D)变换器 3）芯片及应用 ③ 应用：i) 模拟量输入电路 a. 模拟输入：单极性、双极性 AD574 图8.31 AD574的模拟电压输入 (a)单极性输入； (b)双极性输入 * 8.1.4 A/D与D/A变换器接口 2、模拟到数字(A/D)变换器 3）芯片及应用 AD574 图8.31 AD574的模拟电压输入 (a)单极性输入； (b)双极性输入 (a) (b) * 8.1.4 A/D与D/A变换器接口 2、模拟到数字(A/D)变换器 3）芯片及应用 ③ 应用：i) 模拟量输入电路 b. 输入路数扩展 模拟开关 H1508：8 路 74HC4051、MAX4051：8路 74HC4052、MAX4052：双4路 AD574 导通电阻100Ω * 8.1.4 A/D与D/A变换器接口 2、模拟到数字(A/D)变换器