原子力显微镜在高分子领域的应用进展pdf1965Kb.PDF

第 2 1 卷第 2 期 商 丘 师 范 学 院 学 报 Vol . 2 1 No . 2 2005 年 4 月 J OU RNAL OF SHAN GQ IU TEACHER S COLL E GE Ap ril , 2005 原子力显微镜在高分子领域的应用进展 董炎明 ,毕丹霞 ,陈江溪 (厦门大学 材料科学与工程系 ,福建 厦门 36 1005) ( ) ( ) 　　摘 　要 :原子力显微镜 A FM 是在扫描隧道显微镜 STM 基础上发明的又一种纳米级高分辨率显微技术 , 目 前已在高分子领域获得了广泛的应用. A FM 无需对样品进行任何预处理即可对各种材料进行微观区域的表面形 貌及机械性能探测 ,或者直接进行纳米操纵. 本文则从表征聚合物聚集态 、物理性质 、分子量及其分布等几个方面 综述了当前 A FM 应用于高分子材料研究的最新进展和新技术. 关键词 :原子力显微镜 ;高分子 中图分类号 :O63 1 　　　　　文献标识码 :A 　　　　　文章编号 :1672 - 3600 (2005) 02 - 0006 - 07 Appl ication progress of atomic f orce microscope to polymer science DON G Yanming ,B I Danxia ,CHEN J iangxi (Dep art ment of Materials Science and Engineering , Xiamen University , Xiamen 36 1005 ,China) Abstract :Atomic force micro scope (A FM) was invented as anot her nano scale micro scop y wit h high resolution based on scanning t unneling micro scope ( STM) and has extensive application in polymer field . A FM allow s not only visualization of surface morp hology and investigation of mechanical p roperties , but also nanoindent ation and modification wit hout any special sample t reat ment . This p aper review s some recent advances and new techniques of t he application of A FM to polymer science . Key words :atomic force micro scope (A FM) ; polymer 0 　引　言 20 世纪 80 年代初 , 科学家 Binning 和 Rohrer 利用原子 间的隧道 电流效应发 明了扫描隧道显微镜 (scanning t unneling micro scope ,STM) [ 1 ] ,其基本原理是基于量子隧道吸引和扫描. STM 具有空前高的分辨 率 ,横向可达 01 nm ,纵向可优于 00 1 nm ,从而使人们第一次直观地看到原子 、分子 ,把人们带到了微观世 界. 但是由于 STM 依靠隧道电流工作 ,因此 ,只适用于导电材料. 为了获取绝缘材料的原子图像 ,在 STM 的