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- 2017-10-27 发布于北京
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利用保偏光纤马赫-曾德(MZ)干涉仪测量薄膜材料电光系数.pdf
第28卷第7期 半 导 体 学 报 V01．28No．7
JOURNALOFSEMICONDUCTORS
2007年7月 CHINESE July，2007
of Material
EffectMeasurementThin-Film
Electro--Optical
PM Mach—ZehnderInterferometer+
UsingFiber
Tu Lei，Chen Shaowu，Zu0Yuhua，
Xiaoguang’，ZhaoPing，Chen
Yu Qiming
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