腔靶金M带辐射角分布测量.pdfVIP

第25卷第1l期 强 激 光 与 粒 子 束 V01．25，No．11 ANDPARTICLEBEAMS Nov．，2013 2013年11月 HIGHPOWERLASER 文章编号： 1001—4322(2013)11-2887—04 腔靶金M带辐射角分布测量+ 杜华冰， 郭 亮， 李三伟， 杨 冬， 李志超， 宋天明， 杨家敏 (中国工程物理研究院激光聚变研究中心，四川绵阳621900) 摘 要： 在黑腔实验中使用了一种滤片选通的平响应X光探测器，探测器基于A1阴极X射线二极管构 成，并结合了一种特殊结构的复合滤片，实现了在金M带能区的带通平响应特性，探测器响应曲线的平整度好 于10％。应用这种新型探测器，从不同方向测量了金等离子体在M带能区的腔外绝对辐射量和角分布。由实 验发现，随着探测器与腔轴之间角度的增加，探测器透过激光注入12I的观测视场减小，同时观测区域等离子体 温度下降，从而导致探测器测量到的M带能量变小；输运腔在激光注入过程中存在等离子体堵腔效应，输运腔 的M带能量份额比大腔的份额要高。 关键词：金M带；角分布；带通滤片；平响应；X射线二极管 中图分类号：0434．1 文献标志码： A doi：10．3788／HPLP2887 1．6～4．5 keV)的相关物理问题是ICF中重要的研究内容。而激光与金腔壁作用中产生的M带辐射会预热靶 丸燃料，最终降低内爆过程中的流体力学效率，因此，抑制金M带辐射预热靶丸，一直是ICF研究的重点。由 于金M带辐射功率在激光打靶过程中变化较大，为达到最佳的内爆烧蚀和压缩效率，通常烧蚀层中会分层掺 杂不同浓度的中Z材料，这就需要较精确的金M带辐射份额及其时间行为数据[3。4]。在激光与金材料作用中 产生的M带辐射受电子热传导、材料不透明度和状态方程等多种因素影响，目前还很难建立准确的数值模拟， 这就需要通过实验数据来获得准确的M带辐射特性，并完善点火靶设计及理论模拟。目前金M带辐射的实 能区谱响应较差，较难定量测量，而且软X光能谱仪结构复杂，只能获得一至两个观测角度的实验结果，难以 在靶室上多点排布，而金M带辐射主要来自于激光焦斑，因此较难定量还原整个黑腔内部的金M带辐射特 性睁8I。针对目前的实验情况，课题组研发了一种新型的金M带平响应探测器[9]。这种探测器具备谱响应特 性好、较高的时间分辨、体积较小便于安装等特点，能够在同一次金M带测量中获取多个角度的数据。其主要 keV 创新点是设计了一种特殊的复合滤片，这种滤片与通用的Al阴极XRD探测器结合后实现了1．6～4．4 之间的带通平响应特性；同时特殊的微孔阵列结构也满足了在北京同步辐射光源上进行精密标定的要求。利 用这种新型探测器与高速示波器等探测设备组成的测量系统在ICF实验中获得了腔外金M带的能量份额、时 间行为及其空间角分布，为优化设计靶丸和了解腔内等离子体填充特性等提供了实验基础。 l 金M带诊断技术原理 在过去的实验中金M带测量通常采用Al阴极XRD加15“m的Be滤片和4 bcm的Ti滤片测量，图1给 keV以下和5keV以 出了组合滤片加XRD探测器整体响应曲线，可以看出组合滤片加XRD探测器抑制了2 上的X射线，但整个金M带能量响应平整度较差，较难实现准确的定量测量。 为了改善金M带的带通能区平响应特性，我们重新考虑了探测器的配置。首先，由于实际黑腔辐射谱大 部分能量集中在低能部分，而AI材料吸收边在1．6keV附近，因此选用Al阴极XRD可以抑制低能区的影 响。其次，为了配合Al阴极XRD的响应曲线，使整个探测器的灵敏度为平响应，我们采用了多种材料或材料 组合进行了大量计算，最后采用了复合滤片的方式，即采用3．9tLm的Sc滤片和720nm