用超高速光电采样技术研究半导体微波器件时域特性和频域特性3.pdfVIP

　第 19 卷第 2 期　　　　　　　　半　导　体　学　报　　　　　　　　 . 19, . 2　 V o l N o 　1998 年 2 月　　　　　　CH IN ESE JOU RNAL O F SEM ICONDU CTOR S　　　　　　Feb. , 1998　 用超高速光电采样技术研究半导体 微波器件时域特性和频域特性 潘家齐　袁树忠　吕福云　范万德　王劲松　李献元 (南开大学电子科学系　天津　300071) 摘要　本文采用超高速光电采样技术研究了半导体微波器件和单片微波集成电路( ) M IM IC 的时域特性和频域特性. 阐述了该方法的原理及优越性, 对时域波形进行了分析和修正. 并利 用