Q45扫描电子显微镜.PDFVIP

Q45扫描电子显微镜 为各种样品在高真空、低真空和环境真空下灵活地表征。 为应对研究宽范围的材料及结构及 优点 成分表征的需求，FEI Q45 SEM为 在所有的操作模式下可以用SE或BSE图像表征导电或不导电样 品。 应对当今的宽范围研究需求的挑战 样品制备工作最少化；低真空和环境扫描模式实现了无荷电成像 提供了灵活性和多功能。观察任何 及不导电样品和/或含水样品的分析 增加了除导电样品之外的非导电样品的分析能力，利用多级穿过 样品和获得所有数据：表面和成分 透镜的抽气系统在高低真空模式下完成EDS和EBSD分析。 像可以和附件结合起来确定材料的 利用稳定的高束流（上至2 μA）电子束可以迅速获得精确的分 析结果。 性能和元素组成。 采用为ESEM选配的帕尔贴冷台可在样品的自然含水状态下完成 样品的动态原位分析。 今天的研究超越了简单的金属和喷镀样 简单易用，即使是新手利用直观的软件可实现高效操作。 品。Q45 SEM为从传统样品如金属、断口和抛光 的截面到不导电软材料提供了顶级质量的图像 和分析，来自FEI的Q45 SEM为目前的和未来的 研究应用提供了先进的和灵活的解决方案。具有 三种成像模式特点高真空、低真空和环境真空 ESEM™，它可以适应任何SEM系统的最宽范围 的样品。 Q45 SEM拥有简单易用和灵活的用户界面，具有 最大化工作效率和允许收集所有数据的能力。在 40 μm 30 μm 设计时考虑到各种经验水平的用户，Q45的易用  Cu台上的硫酸铜晶体用SE（形貌形象，左边）和BSE（成分信 性是最好的。导航特点包括自动蒙太奇导航，双 息，右边）展示了腐蚀情况。在Q45上SE和BSE可以同时实时成像 击移动样品台，拖拽移动缩放和其它有用的集成 允许在表征时分辨表面和/或成分差异。 为标配功能特点。SmartSCAN™技术采用聪明 的扫描策略使得更容易减少噪声和提供更好的 数据。 更好的数据、更多的灵活性、更高的效 率。Q45 SEM系列为您的投资带来更多价值。 探测器 · 高真空模式，E-T二次电子探头 · 低真空模式，大视场气体二次电子探头 (LF- GSED) · ESEM环境真空模式，气体二次电子探头，含 压差光阑 (GSED) · 极靴底部安装四环分隔式定向型背散射电子 探头 (DBS) · 样品室红外CCD相机 · 支持能谱仪选项 (EDS)