DDR测试技术和工具是否跟上了时代步伐.PDFVIP

DDR 测试技术和工具是否跟上了时代步伐？ DDR 是双倍数据速率的SDRAM 内存，如今大多数计算机系统、服务器产品的主流存储 器技术，并且不断向嵌入式系统应用领域渗透。孰不知，随着 iPhone 等大牌智能手机的采 纳，DDR 内存俨然成为智能手机转变的方向之一，例如韩国泛泰去年底最新推出的Android 智能手机Vega X 就搭载了512MB 的DDR2 内存。 DDR 技术不断发展，并行总线达到了串行技术的速度，时钟速度达到1GHz。目前，DDR3 现在已经具备 1.6Gb/s 的数据速率，而DDR3-1866 及更高速率版本正在开发中，很快就会 出现在市场上。目前主流的 DDR2 也有多种速度、多种容量和多种规格,从 DDR-266 的 266MT/S、133MHz、2.5V 电压，已经发展到了现在的DDR2-1066 的1066MT/S、533MHz、 1.8V 电压。另外，低能耗DDR(LP-DDR，用于便携式计算机)和显存GDDR 也是DDR 的 发展变化版本。目前主流的DDR 也有多种速度、多种容量和多种规格,从DDR-266 的266MT/S、 133MHz、2.5V 电压，已经发展到了现在的DDR3-1600,1.5V 电压。另外，低能耗DDR(LP-DDR， 用于便携式计算机)也是DDR 的发展趋势之一。 图1：DDR 存储器的设计正超过千兆位数据速率，时钟速度就要达到1GHz，带来了更 大的测试挑战。 技术的升级和应用领域的拓展，都使 DDR 存储器的验证和测试更具挑战性。高数据速 率和时钟速度使得时序余量更紧张，导致串扰、阻抗匹配和抖动问题加剧，这需要使用高速 测试测量技术和性能更高的测试测量工具，以获得更好的信号捕获能力、测试精度等。 DDR 测试要点和难点 鉴于DDR 的stub(短线)拓扑结构和紧张的时序容限，在验证和测试中要求检验多种指标， 包括：电气电源和信号电源质量，噪声、毛刺和地弹/地跳；时钟信号质量，上升时间和下 降时间/slew rate ；命令、地址和数据有效窗口(建立/保持时间)；DQS/DQ/时钟偏斜。 DDR 数据速率的不断提升使得存储系统的信号完整性问题日益凸显。因此必须将物理层 的信号与系统级的时序关联起来，避免时序冲突、协议背离、时钟抖动以及由总线引发的错 误，确保存储系统准确工作。需要关联的时序包括：存储器初始化时序；SDRAM 模式寄存 器操作(MSR)；读/写数据有效窗口；休眠状态的时序；普通工作状态的时序。 至于DDR 测试的难点，泰克的技术支持工程师余岚最近在IIC-China 的一场研讨会中指 出：“第一，DDR 数据信号DQ 和DQS 是双向的，所以读信号和写信号会同时出现在数据线上， 比较难分离那些数据是读数据哪些数据是写数据；第二，就是探测问题，DDR2 或者 3 使用 的是BGA 封装，测试管脚隐藏在芯片的底下，因此探头的选择非常重要。另外由于DDR2 和 DDR3 速率非常高，所以对于带宽和探测信号保真度要求就格外的高，而且很多时候我们光 靠示波器已经满足不了测试的要求了，需要联合比如逻辑分析仪等进行协议和时序的联合测 试。” 余岚表示，带宽/上升时间、采样率、触发方式、内存软件、探头是DDR 测试选择示波 器的重要考量指标，其中带宽/上升时间是重中之重，包括连接、信号保真度。但需要联合 逻辑分析仪等设备时，通道数和采样率是最重要的考虑因素。 业界速度最快、最完整的DDR 测试解决方案 对于DDR 信号路径（通道）鉴定和电路板/DIMM 检验，泰克公司带有TDR 模块和S 参 数分析软件的 DSA8200 采样示波器可以帮助工程师高效、简单地完成阻抗测量、插入损耗 和回波损耗、串扰等测量项目，完成整个分析项目只需几分钟。该示波器的采样带宽70GHz， 最有最低的抖动本底，改善了阻抗测量精度和分辨率（Z-Line），1M 的存储深度可保证对高 频信号的长时间测试。 对于DDR 的模拟特性和物理层调试，泰克带宽达20GB 的DPO/DSA/MSO70000B 高性能 示波器和相关探测、测量软件将是非常不错的选择，一个方案同时支持DDR1/2/3、LP-DDR、 GDDR3 。 当然，特别值得一提的是还要搭配泰克公司的突破性探测工具和技术。不过，余 岚介绍说：“对于经费预算有限且DDR 测试要求稍低的中小公司而言，泰克最新推出的高性 价比中端示波