KDP晶体折射率非均匀性检测系统-光子学报.PDFVIP

第 卷第 期 光 子 学 报 ３８ １２ 　 　 　 Ｖｏｌ．３８Ｎｏ．１２ 年 月 　　　　　　　　　　　　 ２００９ １２ ＡＣＴＡＰＨＯＴＯＮＩＣＡＳＩＮＩＣＡ Ｄｅｃｅｍｂｅｒ２００９ ＫＤＰ晶体折射率非均匀性检测系统 柴立群，石琦凯，徐建程，许乔，邓燕 （成都精密光学工程研究中心，成都 ６１００４１） 摘 要：基于正交偏振干涉法，建立了ＫＤＰ晶体折射率非均匀性的检测系统，并可实现晶体相位 　 失谐角的间接检测 波前检测系统实现了测试光偏振态的精密控制与切换，采用波长调谐相移的方 ． 法去除了测试过程中参考面倾斜引入的误差，优化了抗振动相移算法，提高了波前测试的测量准确 度及重复性 通过折射率非均匀性分析算法的设计，解决了晶体厚度变化引入的误差等 小口径晶 ． ． 体元件的测试结果表明系统的折射率非均匀性检测准确度（均方根值）优于 －６ １０ ． 关键词： 晶体；折射率非均匀性；正交偏振干涉法；相位匹配角 ＫＤＰ 中图分类号： 文献标识码： 文章编号： （ ） Ｏ４３ Ａ １００４４２１３２００９１２３１２６４ 　　　　 　　　　 ０ 引言 本文基于 ＯＰＩ法的检测原理，建立了小口径高 　 准确度干涉检测系统，在系统硬件及分析算法上进 ＫＤＰ晶体在惯性约束聚变系统中作为频率转 行了优化，开展了小口径晶体元件折射率非均匀性 换元件，对系统最终输出能量起着至关重要的影响． 检测的验证实验． 为达到较高的转换效率，晶体光轴方向与光束传播 １ 检测原理及分析算法 方向必须满足一定的角度，即相位匹配角，而晶体由 　 于生长的结构性缺陷等引起的折射率的不均匀性将 正交偏振干涉法仅用于测量频率转换晶体 该 ． 导致光束的空间分布存在不同程度的相位失配，从 方法利用不同偏振态的光波测量晶体的透射波前， ［］ 而引起三倍频系统的转换效率下降 １ ． 通过对测量结果的差异分析得到 光折射率均匀性 ｅ 由于直接测量晶体全场的光轴非均匀性非常困 和与之相关的局部相位匹配角的变化． 难，因而美国利弗莫尔实验室采用两种方法来实现 晶体属于各向异性介质，即对沿不同方向偏振 大口径晶体元件的全场失配角的定量检测，一是采 的光波具有不同的传播性质 对于单轴晶体而言，沿