快速可控降温及纳米薄膜体系用芯片量热仪综述.pdfVIP

快速可控降温及纳米薄膜体系用芯片量热仪综述.pdf

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第卷第期物理学进展年月文章编号快速可控降温及纳米薄膜体系用芯片量热仪综述陈葳周东山薛奇南京大学化学化工学院高分子科学与工程系南京微结构国家实验室筹南京罗丝托克大学物理系罗丝托克德国摘要本论文主要介绍在过去的年中大学物理研究所发展起来的可控降温以及升温速度可以达到的薄膜芯片量热仪许多材料特别是高分子材料的物理性质通常都强烈地依赖于其热历史这一量热仪已经成功地用于它们的快速热处理以及同步的热力学量如热容焓等的测量从而为我们进行亚稳态结构的形成与演化超快热处理中新的人工材料的制备等问题提供了新的研究手

 第 28 卷 第 2 期 物  理  学  进  展 Vol . 28 No . 2    2008 年 6 月 PRO GR ESS IN P H YSICS J un . 2008   文章编号 (2008) 020 13016 快速可控降温及纳米薄膜体系用芯片量热仪 :综述

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