基于混合从属模型的电子设备测试性预计方法研究.pdfVIP

基于混合从属模型的电子设备测试性 ， 预计方法研究 王宝龙1，黄考利1，连光耀1，武建辉2 摘要：在分析现代电子设备测试性预计基本流程的基础上，指出了目前测试性预计过程中存在的 主要问题，提出了一种基于“并行工程”的思想和混合从属模型的电子设备测试性设计预计方法。以 在地面固定(s)和地面移动(M)情况下，具有四个故障类和三个测试任务的某型电子设备为实例，对该方 法进行了说明。通过利用区间贝叶斯网络和贪婪算法相互结合的方法，有效地解决了测试重叠情况下 测试性指标的预计问题。该方法可以与设备CAD设计同步，在一定程度上提高了测试性指标预计的可 信度。 关键词：混合从属模型；测试性预计；区间贝叶斯；贪婪算法 1前言 测试性预计是根据设备测试f生设计资料，通过工程分析和计算来估计设备测试性参 设计任务书的程度，它是评价和确认测试I生设计工作的重要依据。研究测试性预计方法 对提高设备测试性设计质量，降低设备生命周期内测试维护的难度具有重要意义。 传统的测试性预计方法要求建立设备可能存在的每个故障类的“故障特征”，由于故 障描述的难度以及存在海量的数据运算与推理，所以在基于CAD的现代电子设备设计过 程中是难以实现的阻1。另外，传统的预计模