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制造有限公司 编号：JY/WI-8.1-005 版号：02/01 工序质量分析和控制方法 批准： 审核： 编制： 分发部门： 分发号： 2010年01月01日发布 2010年01月01实施 制造有限公司 工序质量分析和控制方法 作 业 文 件 编号：JY/WI-7.6B-001 实施部门：技检部 版次：02 修改码：01 共5页/第1页 1目的 对过程（工序）能力进行研究评价,采取必要的控制措施,确保过程能力满足质量特性值的要求。 2适用范围 适用于公司所有产品制造过程能力的分析研究。 3职责 3.1负责初始过程能力（PPK）的研究分析。 3.2车间在的指导下进行制造过程能力（CPK）的研究分析。 4工作程序 4.1计量型数据－R控制图的使用 4.1.1公式法－R控制图的介绍： 4.1.1.1准备 建立适合于实施的环境（人、机、料、法、环、测均已受控的环境）。 识别过程的关键特性（包括顾客要求的特殊特性和公司确定的质控点特性）。 定义可操作的测量系统的特性（包括测量设备的准确度和精密性）。 4.1.1.2收集数据 1）选择子组大小、频率和数据 ①子组大小：在初期的研究中子组选择由4～5个连续生产的产品的组合。 ②子组频率：每班抽样4次（上午、下午各两次）。 ③子组数的大小：满足100～125个子组。 2）由分析部门给负有检验任务的人员下达《数据采集计划》，并将其作为收集、记录及将数据画到控制图上的依据。 3）建立控制涂图并记录原始数据 ①－R图通常是将图画在R图的上方，下面在接一个数据栏， 和R的值为纵坐标，按时间先后的子组为横坐标，数据值以及极差和均值点应纵向对齐。 ②数据栏应包括每个读数的空间，同时还应包括记录读数的和、均值（）、极差（R）以及日期/时间或其它识别子组的代码的空间 ③填入每个子组的单个读数及识别代码。 4)计算每个子组的均值()和极差(R) 画在控制图的特性量是每个子组的样本均值()和样本极差(R),合在一起后,它们分别反映整个过程的均值及其变差,对每一个子组,计算:  制造有限公司 工序质量分析和控制方法 作 业 文 件 编号：JY/WI-7.6B-001 实施部门：技检部 版次：02 修改码：01 共5页/第2页 = R=X最大值-X最小值 式中:X1，X2….为子组内的每个测量值，n为子组的容量。 4.1.1.3选择控制图的刻度 1）两个控制图的纵坐标分别用和R的测量值。 2）图坐标的刻度值的最大值与最小值之差至少为子组均值（）的最大值与最小值的2倍。 3）R图坐标的刻度值应从最低值为0开始到最大值之间的差值，为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2倍。 4）R图刻度值设置为均值图刻度值的2倍。 4.1.1.4将均值和极差画在控制图上。 1）将均值和极差分别画在各自的图上。 2）将各点用直线连接起来从而得到可见的图形和趋势。 3）观察所画的和R点在纵向是对应的。 4）对还没有计算控制限（由于没有足够的数据）的初次操作控制图上，应注明“初始研究”子样。这些标有“初始研究”的控制图，是允许用在生产现场中还没有控制限的过程控制图。 4.1.1.5计算控制限 1）计算和过程均值 在研究阶段，计算： ＝ ＝ 式中：K为子组的数量，R1和即为第一个子组的极差和均值，R2和为第二个子组的极差和均值，等等。 2）计算控制限 计算控制限是为了显示仅存在变差的普通原因时子组的均值和极差的变化和变化。控制限是由子组的样本容量以及反应在极差上的子组的变化的量来决定的。按下列公式计算： UCLR＝D4 LCLR＝D3 UCL＝＋A2 LCL＝－A2 工序质量分析和控制方法 作 业 文 件 编号：JY/WI-7.6B-001 实施部门：技检部 版次：02 修改码：01 共5页/第3页 式中：D3、D4、A2为常数，从下表查到。 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 3.27 2.57 2.28 2.11 2.00 1.92 1.86 1.82 1.78 D3 * * *