实验阻抗测量(归一化阻抗测试实例).docVIP

实验四 阻抗测量（归一化阻抗测试实例） 一、实验目的和要求 应用所学的理论知识，学会并掌握利用微波测量线系统测量微波负载阻抗（或导纳）的方法，熟悉阻抗圆图应用。 二、实验内容 利用微波测量线系统测量电容性膜片和电感性膜片的阻抗。其中需先测量出驻波比和电压波节点到终端开口处的距离，然后利用阻抗圆图求出它们阻抗的归一化值。 三、实验原理 在微波波段内，测量阻抗的方法很多。最常用的方法就是本实验所采用的利用微波测量线系统测量阻抗的方法，基本原理如下： 首先利用微波测量线系统测量（在给定终端负载条件下）沿线驻波比（ρ）及第一电压波节点到终端的距离（）。然后利用阻抗圆图求出归一化负载阻抗（）。 1． 测量驻波比 在实验过程中，可按如下方法估算驻波比。使晶体检波器工作于小信号状态（加大信号源输出的衰减量），测出沿线电压波腹点处对应的选频放大器电流表表头指示的最大值（Imax）及电压波节点处对应的选频放大器电流表表头指示的最小值（Imin），沿线驻波比可按下式估算： 另外本实验使用的YM3892选频放大器，已近似按平方律基本的规律刻度了驻波比，由此也可估算驻波比。具体方法是：先在电压波腹点调选频放大器的衰减旋钮，使其电流表表头指示值达满刻度，然后调节测量线小探针位置旋钮至电压波节点，此时对应的选频放大器电流表指针所指的驻波比刻度值即为晶体按平方律基本时的驻波比的近似值。 应该指出，此方法为视检