光电探测器实验报告.docx

光电探测器特性测量实验摘要：本实验中探测并绘制了光电二极管的光谱响应曲线。分别运用脉冲法，幅频特性法和截止频率法对二极管和光敏电阻的响应时间进行了测量，并分析比较了这三种方法的利弊。最后自己设计连接电路测量光敏电阻的响应时间，更深入地理解了响应时间及测量原理。引言光电探测器可将一定的光辐射转换为电信号，然后经过信号处理，去实现某种目的，它是光电系统的核心组成部分，其性能直接影响着光电系统的性能。因此，无论是设计还是使用光电系统，深入了解光电探测器的性能参数都是很重要的。通常，光电探测器的光电转换特性用响应度表示。响应特性用来表征光电探测器在确定入射光照下输出信号和入射光辐射之间的关系。主要的响应特征包括：响应度、光谱响应、时间响应特性等性能参数。本实验内容主要是光电探测器性能参数测量和光电探测器的一般使用方法，并专门列举了几种常用的光电探测器的使用方法。实验原理1.光电探测器光谱响应度的测量光谱响应度是光电探测器对单色入射辐射的响应能力。电压光谱响应度定义为在波长为的单位入射辐射功率的照射下，光电探测器输出的信号电压，即；同理，电流光谱响应度式中，为波长时的入射光功率；为光电探测器在入射光功率作用下的输出信号电压；则为输出用电流表示的输出信号电流。实验中用响应度和波长无关的热释电探测器作参考探测器，测得入射光功率为时的输出电压为。若用表示热释电探测器的响应度，则（为热释电探测器前放和主放放大倍数的乘积，即总的放大倍数。在本实验中，Kf=100×300，为热释电探测器的响应度，实验中在所用的25Hz调制频率下，＝900V/W）。然后在相同的光功率下，用硅光电二极管测量相应的单色光，得到输出电压，从而得到光电二极管的光谱响应度式中Kb为硅光电二极管测量时总的放大倍数，这里Kb=150×300。2.光电探测器响应时间的测试表示时间响应特性的方法主要有脉冲响应特性法和幅频特性法。脉冲响应响应落后于作用信号的现象称为弛豫。对于信号开始作用时产弛豫称为上升弛豫或起始弛豫；信号停止作用时的弛豫称为衰减弛豫。弛豫时间的具体定义如下：如用阶跃信号作用于器件，则起始弛豫定义为探测器的响应从零上升为稳定值的（1-1/e）（即63%）时所需的时间。衰减弛豫定义为信号撤去后，探测器的响应下降到稳定值的1/e（即37%）所需的时间。这类探测器有光电池、光敏电阻及热电探测器等。另一种定义弛豫时间的方法是：起始弛豫为响应值从稳态值的10%上升到90%所用的时间；衰减弛豫为响应从稳态值的90%下降到10%所用的时间。这种定义多用于响应速度很快的器件，如光电二极管、雪崩光电二极管和光电倍增管等。若光电探测器在单位阶跃信号作用下的起始阶跃响应函数为[1-exp(-t/τ1)]，衰减响应函数为exp(-t/τ2),则根据第一种定义，起始弛豫时间为τ1，衷减弛豫时间性为τ2。此外，如果测出了光电探测器的单位脉冲响应函数，则可直接用其半值宽度来表示时间特性。为了得到具有单位冲激函数形式的信号光源，即δ函数光源，可以采用脉冲式发光二极管、锁模激光器以及火花源等光源来近似。在通常测试中，更方便的是采用具有单位阶跃函数形式亮度分布的光源。从而得到单位阶跃响应函数，进而确定响应时间。幅频特性由于光电探测器惰性的存在，使得其响应度不仅与入射辐射的波长有关，而且还是入射辐射调制频率的函数。这种函数关系还与入射光强信号的波形有关。通常定义光电探测器对正弦光信号的响应值和调制频率间的关系为它的幅频特性。许多光电探测器的幅频特性具有如下形式。 A(ω)=式中，A表示归一化后幅频特性；ω=2Πf为调制圆频率；f为调制频率；τ为响应时间。在实验中可以测得探测器输出电压V(ω)为 V(ω)=式中V0为探测器在入射光调制频率为零时的输出电压。这样，如果测得调制频率为f1时的输出信号电压V1和调制频率为f2时为输出信号电压V2，就可由下式确定响应时间 τ=截止频率法由于许多光电探测器的幅频特性都可由式（2-1）描述，人们为了更方便地表示这种特性，引出截止频率。它的定义是当输出信号功率降至超低频信号功率一半时，即信号电压降至超低频信号电压的70.7%时的调制频率。故fc频率点又称为三分贝点或拐点。由式（2-1）可知，由此可求出响应时间。实验装置及过程实验装置：WD30光栅单色仪、热释电探测器、硅光电二极管、选频放大器、调制盘、卤素灯、双踪示波器、光电探测器时间常数测试实验箱（峰值波长为900nm的光电二极管和可见光波段的光敏电阻以及峰值波长为900nm的红外发光管和可见光（红）发光管）、光敏电阻、LED灯。实验步骤：（一）用脉冲法测量光电二极管的响应时间1. 探测器选