北航物理研究性实验报告 双电桥测低值电阻.docx

基础物理实验研究性报告——双电桥测低值电阻　　　　　　实验专题：双电桥测低值电阻　　　　　　第一作者 孙卫锐　　　　　　第二作者 张亚彬2012年12月11日星期二摘要电阻是基本的电路元件之一，因此电阻的测量也是最基本的电学实验，既能有效锻炼对电学实验的基本操作能力，又能加深对电路的深入理解。本实验从双电桥测低阻出发，详细介绍了了开尔文双电桥测量低电阻的原理以及具体的实验过程，对实验数据进行了严格的处理，并进行了不确定度的计算和分析，还对实验误差进行了深入的分析，并结合自己的实验经历，提出了自己对于本实验的理解和建议以及自己对这次实验的感受。关键词：开尔文双电桥；桥臂；跨线电阻；电桥倍率　（一）实验目的掌握平衡电桥的原理—零示法与电压比较法；学习用交换测量法消除系统误差；学习灵敏度的概念，了解影响电桥灵敏度的因素；学习使用双电桥测低阻；巩固数据的处理方法；（二）实验原理电阻是电路的基本原件，对它的测量是电学实验的基本部分。电阻的测量方法有很多，根据电阻阻值的大小不同，业发展出了很多针对性的测量方法，以达到尽量精确测量的目的。通常将10Ω一下的电阻称为低电阻。由于电路经常有导线电阻和接触电阻的存在，在测量低电阻的时候就会引入误差。惠斯通电桥（单电桥）测量的电阻，其数值一般在10-Ω之间，为中电阻。而对于前述的低电阻，例如变压器绕组的电阻，金属材料的电阻，测量线路的附加电阻就不能忽略，此时普通的惠斯通电桥已经难以胜任。双电桥是在单电桥的基础上发展起来的，可以消除（或减少）附加电阻对测量结果的影响，一般用来测量-10Ω之间的低电阻。如图1所示，用单电桥测低电阻时，附加电阻R与R和Rx是直接串联的，当R和R的大小与被测电阻大小相比不能忽略时，用单电桥测电阻的公式就不能准确地得出的值；再则，由于很小，如，电阻也应该是小电阻，其附加电阻（未在图中具体标出）的影响也不能被忽略，这也是得不出准确值的原因。开尔文电桥是惠斯通电桥的变形，在测量小阻值电阻时能给出相当高的准确度。它的电路原理图如图2。其中、、、均为可调电阻，为被测低电阻，为低值标准电阻。与图1相比，开尔文电桥作了两点主要的改进：①增加了一个由和组成的桥臂。②和由两端接法改为四端接法。其中构成被测低电阻，是标准电阻，常被称为电压接点，称为电流接点。图1 图2在测量低电阻时，和都很小，所以与相连的8个接点的附加电阻（引线电阻和端钮接触电阻之和）—、，和间的连线电阻，间的电阻，间的电阻，间的电阻，间的电阻，均应该予以考虑。于是，开尔文电桥就可以等效成为如图3所示的电路图。其中远小于，远小于，远小于，远小于，均可忽略。、、、可以并入电源内阻，不影响测量结果，也不予考虑。需要考虑的只有跨线电阻简化结果如图4所示。图3图4调节使电桥平衡。此时，，且有三式联立求解得表面看来只要保证，即可有，附加电阻的影响就可以略去。然而绝对意义上的实际上做不到，这时就可以看成与一个修正值的叠加不难想见，再加上跨线电阻，就可以在测量精度允许的范围内忽略的影响。通过这样两点改进，开尔文电桥将和的接线电阻和接触电阻巧妙地转移到电源内阻和阻值很大的桥臂电阻中，又通过和的设定，消除了附加电阻的影响，从而保证了测量低电阻时的准确度。为保证双电桥的平衡条件，可以有两种设计方式：① 选定两组桥臂之比为,将做成可变的标准电阻，调节使电桥平衡，则计算的公式为。式中成为比较臂电阻，为电桥倍率系数。② 选定为某固定阻值的标准电阻并选定为某一值，联调与使电桥平衡，则计算的公式变换为此时或为比较臂电阻，或为电桥倍率系数。实验室提供的型单双电桥采用的是第②种方式。电阻率是半导体材料的重要电学参数之一，它的测量是半导体材料常规参数测量项目，四探针测量金属薄膜面电阻是当今微电子技术领域中常用的方法。本实验就是通过对细铜棒电阻的测量从而间接地测出铜的电阻率，实验所采用的铜棒可看作粗细一致的圆柱体。这样，铜棒的电阻与铜棒的长度成正比，与其横截面积成反比，即：式中ρ代表铜的电阻率，L为铜棒的长度，S为铜棒的横截面积，将带入可以 得到：所以，实验时只需测出铜棒的长度和相应的电阻及铜棒的直径d，带入公式即可求出铜的电阻率ρ。由于铜棒的电阻与其长度成正比，所以在实验方案上可以采取改变铜棒接入电路中的长度来改变铜棒接入电路中的电阻，测出一系列数据后，以为纵轴y，L为横轴x，建立直角坐标系。然后采用一元线性回归的方法求出直线的斜率b，然后根据即可求出铜的电阻率。（三）实验仪器QJ19型单双电桥，指针式检流计，电阻箱，滑线变阻器（48Ω, 2.5A），双刀双掷开关，直流稳压电源（0-3A），四端钮标准电阻（0.001Ω），待测低电阻（铜杆），电流表（0-