扫描隧道显微镜在电化学研究中的改进及应用.docx

S on gbai 2 , Gon g A i j u n1 , L i u Zelon g2 ( 1 . De p a rt m en t of Che m ist ry , U ni ve rsi t y of S cience a n d Tech nology B ei2j i n g , B ei j i n g , 100083 ; 2 . Resea rch I nst i t u te of Pet roleu m Processi n g , B ei j i n g , 100083)Applicatio ns of inst rumental analysis techniques , including GC , HPL C , N IR , N M R , GC ×GC , GC2A ED , TL C2F ID and GC2M S , in pet roleum p ro duct analysis are reviewed wit h 52 references.扫描隧道显微镜在电化学研究中的改进及应用焰1澎1 ,2佳1李赵王( 1 . 中国科学院海洋研究所 ,青岛 ,266071 ; 2 . 中国科学院研究生院 ,北京 ,100039)摘 要 扫描隧道显微镜 ( S TM) 在电化学领域有广泛应用 。但由于 S TM 是通过感应非常微弱的隧穿电流来反映表面状况 ,而隧穿效应是在一定条件下才能发生的量子效应 ,所以在实际应用中受到不少限制 。针对 S TM 在 电化学研究中的局限性 ,国内外作了许多改进 ,出现了一些新的装置 ,如电化学扫描隧道显微镜 、电化学原子力显微镜 、扫描电化学显微镜等 。本文介绍 S TM 在电化学研究中的改进及其应用 ,并就发展趋势作简短讨论 。关键词 电化学 电化学扫隧道显微镜 电化学原子力显微镜 扫描电化学显微镜穿的几率而无法产生隧穿电流2 。因此 , S TM 只能观察表面势垒较窄 、较小的导体或某些半导体的表 面结构 。如果样品表面形成氧化物等绝缘层 ,或者缓蚀剂在电极表面形成的沉积膜过厚 , S TM 就无法正常工作或分辨率下降 。112不均匀表面的选区缺乏代表性S TM 对电极及其他表面观察部位的选取是不 确定的 ,而且分辨率与扫描范围有关 ; 扫描范围大 , 分辨率低 ,很难达到原子级水平 。要获得原子级图扫 描 隧 道 显 微 镜 ( scanning t unnel micro scope ,S TM) 是 瑞 士 苏 黎 世 实 验 室 的 G. Binning 等 人 于1982 年研制成功的一种可以精确显示材料表面结 构的分析仪器 。它利用了量子力学的电子隧穿效应 ,分辨率在水平方向可达 0 . 1 nm , 垂直方向可达0 . 01 nm 。与其它表面结构分析仪器不同 ,它不受真 空测试环境的限制 ,可在大气 、液体环境下直接观察 导体和半导体表面的亚微观和微观结构1 。S TM的出现使电化学研究进入亚微观 、微观领域 ,由研究 测量过程中电极电位与电流随时间变化的关系 ,进 入直接观察电化学过程中材料/ 溶液界面的结构变 化 ,为电化学理论研究提供丰富的信息 ,使研究工作 更加深入 。但 S TM 也存在一些局限性 。本文介绍 S TM 在电化学研究中存在的主要问题 、针对这些问 题所做的改进及其应用情况 。像 ,所选的扫描范围应很小1,一般为 1μm2 。相对于 cm2 数量级的电极表面 ,S TM 对微观上不均匀的电极表面 ,选取的观察部位往往不具有代表性 。如 扫描的选区特殊或有缺陷而发生点蚀 ,这种缺陷在 表面尺度上无法察觉 ,但不能说明整块材料的情况 。 因此 ,在电化学方面 ,S TM 往往限于研究单晶 、非晶 之类表面物理 、化学性质均匀的电极材料1 , 理论 研究与实际体系的距离较远 。113法拉第电流对测定结果有干扰S TM 在液相条件下测量时 ,对样品电位的控制 要求较高 。如果发生的电化学反应在针尖上产生了较大的法拉第电流 ,就不能正确反映探针电流与电1STM 在电化学研究中存在的主要问题111不能观察非导体和某些半导体表面S TM 利用探针与被扫描表面之间的隧穿电流 感应微观尺度的变化 。隧穿电流与势垒的厚度和高度有很大关系 ,势垒过厚和过高将大大减少电子隧作者简介 : 李焰 ,男 ,1972 年出生 ,研究员 ,主要从事金属腐蚀与防护研究 。联系人 : 赵澎 ,电话 :0532 - 2898740 , E - mail :alf red98 @163 . co m分 析 仪 器2004 年第 4 期6极体系之间的关系 ,而无法保证正常的测定 。同时 ,S TM 要求电化