- 1、本文档共24页,可阅读全部内容。
- 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
- 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载。
- 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
FPC制品检查规格指示书
制品检查规格指示书
客户名称 品目 文件编号 全品目 WI00001J
作成/变更履历:
版序 日 期 变 更 内 容 说 明 总页数 承认 审核 担当 A B C D E F G H I J
文 件 编 号 WI00001J 不良项目 图 示 判 定 基 准 检查方法 1.短路
1.铜残造成短路判定NG.
目视检查
异常品以显
微镜,测量规确认. 2.铜残(1)
铜残距外形(b)最小要有0.2mm以上的距离才可判定OK.
铜残长度(L)在2mm内判定OK.
单面板:铜残宽度(a)超过导体
间隔(W)的1/3判定NG.
双面板:铜残宽度(a)超过导体
间隔(W)的1/2判定NG.
目视检查
异常品以显
微镜,测量规确认. 3.铜残(2)
当两条导体上都有铜残时(如图
所示之情况)判定基准如下:
两个铜残的距离(G)大于2mm时,则以不良项目第2项铜残(1)规格判定.
两个铜残的距离(G)小于2mm
时:
单面板:铜残c1+c2的宽度超
过导体间隔(W)的1/3
判定NG.
双面板:铜残c1+c2的宽度超
过导体间隔(W)的1/2
判定NG.
1-3.铜残长度(L)在2mm内判定OK
目视检查
异常品以显
微镜,测量规确认. 4.断线
1.导体断线判定NG. 目视检查
异常品以显
微镜,测量规确认.
第1页
文 件 编 号 WI00001J 不良项目 图 示 判 定 基 准 检查方法 5.针孔
缺口(1)
针孔,缺口长度(L)在2mm内判定OK
单面板:缺口宽度(a),针孔宽度
(c)超过导体宽幅的1/3
判定NG.
双面板:缺口宽度(a),针孔宽
度(c)超过导体宽幅的
1/2判定NG.
目视检查
异常品以显
微镜,测量规确认. 6.针孔
缺口(2)
当一条导体上有两个缺口或针 孔时(如图所示之情况)判定基
准如下:
1-2.两个缺口,针孔的距离(G)大
于2mm时,则以不良项目第5
项针孔,缺口(1)规格判定.
两个缺口,针孔的距离(G)小于2mm时:
单面板:缺口b1+b2的宽度超
过导体宽幅的1/3判
定NG.
双面板:缺口b1+b2的宽度超
过导体宽幅的1/2判
定NG.
1-4.缺口,针孔长度(L)在2mm内
判定OK
目视检查
异常品以显
微镜,测量规确认. 7.表面缺口
表面缺口超过导体厚度1/3判
定NG 目视检查
异常品以显
微镜,测量规确认. 第2页
文 件 编 号 WI00001J 不良项目 图 示 判 定 基 准 检查方法 8.焊点针孔
缺口
A部焊点缺口,针孔(a)超过导体宽幅(W)的1/3判定NG.
B部焊点缺口,针孔到穴的距离(b1),(b3)最小需有0.05mm.才可判定OK.
缺口b2依穴径公差判定之.
3.一般部焊点缺口,针孔,以单焊
点面积1/10以下判定OK. 目视检查.
异常品以显
微镜,测量
规确认. 9.导体变色
1.a:指纹变色,判定NG.
2.b:圆形实心变色,判定NG.
3.c:圆形空心变色,判定OK.
4.d:片状,点状变色占制品导体面积1/10以上,判定NG.(若有个别品目个别规格书时,须依个别品目规格书规定)
目视检查 10.导体龟裂 1.导体龟裂判定NG. 目视检查.
异常品以显微镜确认.
11.导体剥离
1.有保护胶片覆盖部份:
屈曲部:导体剥离(C)超过导体宽幅(W)的1/3判定NG.
一般部:导体剥离(C)超过导体宽幅(W)的1/2判定NG.
2.无保护胶片覆盖部份:
导体剥离(C)超过导体宽幅(W)
的1/4判定NG.
目视检查
异常品以显
微镜,测量
规确认. 第3页
文 件 编 号 WI00001J 不良项目 图 示 判 定 基 准 检查方法 12.导体太粗
导体太细
目视检查
异常品以工
场显微镜检
查量测 13.导体伤痕
伤痕程度(A)大于导体厚度(T)
的1/3判定NG. 目视检查. 14.保护胶片
接着剂溢出
保护胶片接着剂溢出
接着剂溢出(f)需小
文档评论(0)