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第35卷，增刊 红外与激光工程 2006年10月
V01．35 InfraredandLaser 0ct．2006
Supplement Engineering
偏振光斯托克斯参量的测量和应用
程敏熙，何振江，黄佐华
(华南师范大学物理与电信工程学院，广东广州510006)
摘要：斯托克斯参量可全面描述光束的偏振态，分析了偏搌光的斯托克斯参量的意义及其测量方法．通
过测量纳米级薄膜样品的入射和反射偏振光的斯托克斯参量，求得椭偏参量帅A，然后求得薄膜样品的厚度
和折射率．实验表明，该方法适用于任何偏振态的入射和反射偏振光，测量系统构建较容易，测量结果与目
前常用的椭偏消光法接近。
关键词：斯托克斯参量； 椭偏参量； 薄膜测量
中图分类号：0436．3 文献标识码：A 文章编号：1007．2276(2006)增B一0109．07
Measurementand ofstokes of
applicationparameterspolarizedlight
、CHENGMin—xi，HE Zuo—hua
Zhen-jiang，HUANG
，
of and China
(School Telecommunication Normal
Physics Engineering，SouthUniversity,Guangzhou510006，China)
Abstract：Polarizedcanbedescribed StokesParameters．The of
Stokes
light completelyby physicalsignificance
are
Parametersandtheir me出odstudied．The allano-meterfilmcallbe
testing e11ipsometryparameters(1；f，；△)of
measured theStokesParametersofincidenceandreflection thethicknessandrefractive
bytesting light．Then index
ofthe canbeobtained．The showsthat
sample experiment thismethodissuitabletoany stateofincidence
polarized
andreflection Canbeset testedresultsisclosetotheonefromthe
fight，theexperimentalsystem upeasily,the
withextinction．
ellipsometer
words：Stokes film
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