X荧光光谱仪校准方法在RoHS检测中的应用分析.docVIP

精品论文 参考文献 X荧光光谱仪校准方法在RoHS检测中的应用分析 东莞南玻太阳能玻璃有限公司 广东东莞 523000 摘要：欧盟颁布的《关于在电子电器设备中限制使用某些有害物质指令》（RoHS）中规定了家电、IT、通信设备等消费产品中铅、汞、镉、铬、溴五种元素的最低使用量。从客观的角度来分析，RoHS检测是一种必要性的检测，通过对有害元素的使用量进行分析，了解电子电器设备能否符合标准，能否投放市场，能否大量的生产等等。目前，在RoHS检测工作中，所运用的方法为X荧光光谱仪校准方法，该方法可在检测过程中，对不同的元素实施针对性的检测，以此来达到得到详细数据的目的。 关键词：X荧光；光谱仪；校准；RoHS检测 一般而言，RoHS检测是属于比较详细的检测，其主要是运用量色散型X荧光光谱分析仪作为一种比较快速的分析仪器来完成，同时为我国的相关生产企业、相关检测机构，提供了一种无损、检测可行的有效途径。目前，国家对有害元素的重视程度是比较高的，一旦发现电子电器设备中的有害元素超标，势必会实施较大的惩罚。但技术的进步，促使某些有害元素在加工处理后不易检测，有可能会在RoHS检测中蒙混过关。此时，应选择一些能够深入检测的技术和方法来完成。在此，本文主要对X荧光光谱仪校准方法在RoHS检测中的应用展开分析。 一、仪器工作原理及结构 目前，很多国家都将RoHS检测作为标准，对国内生产的电子电器设备开展详细的检验和分析。一般而言，我们所利用的X荧光光谱仪校准方法，是与RoHS检测高度贴合的一种方法。从原理上来分析，应用X荧光光谱仪校准方法在实施RoHS检测的过程中，原子会受到高能辐射刺激，并且直接受到激发作用，进而会引起内层电子的跃迁作用。另外，原子在该种状态下，还会发射出具有特定波长的X射线。此时，操作人员会根据量子的相关理论，将X射线进行虚拟化，主要是将其看作是一种量子或者是又光子组成的粒子流，从而实施RoHS检测的相关判定。在RoHS检测的组成方面，经过不断的优化和分析处理，现阶段的RoHS检测已经相当健全。RoHS检测在开展X荧光光谱仪校准方法检测的时候，主要是又X射线管、样品室、检测器、放大镜等组成。 二、校准条件 考虑到RoHS检测的严格要求，X荧光光谱仪校准方法的条件也是比较苛刻的，以此来确保最终的检测权威性。校准条件主要是分为两个方面：第一，校准环境。X荧光光谱仪校准方法的环境是比较严格的，在环境的温度上，必须控制在15℃--30℃之间；在环境的相对湿度上面，最大湿度绝对不能超过70%，否则将会对最终的RoHS检测造成不利影响；在工作电压方面，基本上会控制在AC（220plusmn;22）V。以上环境在具体的RoHS检测中，必须满足，任何一项条件的差异，都不能得到正确的检测结果。第二，校准设备。开展RoHS检测，即便是运用了X荧光光谱仪校准方法，也必须得到充足的设备支持，否则是得不到权威结果的，甚至还会造成最终检测结果的较大差异性。为此，在实际的工作中，需应用ABS中铅、汞、镉、铬、溴五种元素成分分析标准物质一套[ABS--B--034以及GBW（E）081634--081637]的相关设备。 三、校准方法及性能要求 我们将X荧光光谱仪校准方法应用到RoHS检测中，虽然在理论上得到了较为丰硕的成果，但最终还是要依靠实践来完成，不能总是在理论上有所依赖，这对客观实际的RoHS检测并没有太大的积极意义。所以，还要在校准方法及性能要求上进行深入的研究，要确保RoHS检测在各方面均能够持续的进步，要确保X荧光光谱仪分析法可以更好的解决问题，而不是仅仅在理论上做出各种的假设。 （一）校准方法 X荧光光谱仪校准方法，主要是划分为3个组成部分，根据不同的需求和不同的工作要求来完成。首先，检出限校准。该方面的校准，是为了更好的确定RoHS检测的一些检出限，以此来做出权威的判定和数据的分析工作。一般而言，我们在RoHS检测中应用X荧光光谱仪校准方法的时候，应首先确保设备工作状态的良好，选择ABS中铅、汞、镉、铬、溴五种元素成分分析标准物质一套[ABS--B--034以及GBW（E）081634--081637]的相关设备来进行校准。通过利用上述的设备，可以更好的确定各个元素的荧光强度，同时还能够掌握好与含量的对应关系，最终计算出各个有害元素的线性相关系数、灵敏度等数据。之后，再利用上述的设备和仪器，进行空白测量的工作，计算出具体的元素实验偏差，总体上的工作还是比较细致的。其次，示值误差及重复性标准。在RoHS检测中，该方面的工作隶属于核心工作。具体的操作方法如下：确定被检测仪器的稳定工作状态，并且要符合