系统级芯片的可测性研究与实践研究.pdfVIP

目录 摘要………………………………………………………………………………………1 Abstract……………………………………………………………………………………………………………2 第1章 引言…………………………………………………………………………3 1．1 可测性设计概述……………………………………………………………3 1．2 可测性设计方法…………………………………………………………．．4 1．3 课题背景……………………………………………………………………6 1．4 论文结构…………………………………………………………………．．7 第2章 集成电路测试概述………………………………………………………．．8 2．1 测试的作用………………………………………………………………．．8 2．2 测试的概率模型…………………………………………………………．．8 2．3 数字集成电路测试………………………………………………………lO 2．3．1测试内容分析………………………………………………………．10