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- 2018-01-03 发布于广东
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2005年11月 第十四届全国半导体集成电路、硅材料学术会议 珠海
基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析
潘曙娟 钟杰
(中国科学院微电子研究所杭州分部杭州310053)
摘要：介绍了基于ATE的集成电路的测试原理和方法，包括功能测试原理，电器特
性测试原理以及一些当今流行的比较特殊的测试方法，并以具体电路为例介绍了常见
的故障分析。
关键词：通用测试仪直流／交流参数测试 功能测试SCAN
the andmethodofIC thefailure
Abstract：introduce test，and
principle
basedonthe toscantest．
analysiS ZSX01，referring
test
Keywords：ATE
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