毕业论文 基于功能覆盖率的处理器运算部件测试.docVIP

毕业论文 题 目 基于功能覆盖率的 处理器运算部件测试 专 业 微电子学 基于功能覆盖率的处理器运算部件测试 摘 要 测试验证是数字集成电路设计中一个非常重要的环节，一般一个复杂的芯片从设计到封装成型，测试将占用百分之七十的时间。因此，一种能花费最短时间，并且能最大限度测试出芯片中设计错误的测试方法是非常重要的。基于功能覆盖率的测试方法就是一种可信性比较高的测试方法。 本论文主要研究如何用借助仿真工具以及基于功能覆盖率的测试方法，对微处理器中功能部件功能正确性及语法正确性进行批量测试。测试过程是在system verilog平台环境下进行的，应用gcc编译工具和GDB调试工具测试C-modle,以及应用Vcs仿真软件测试RTL代码，最后运用基于功能覆盖率的方法编写覆盖组方案代码以及用嵌入式汇编语言编写测试激励，完成C-modle和RTL代码中除了浮点除、浮点乘加以外的所有运算功能测试任务。测试出部分功能部件模块存在代码语法错误或结构错误，并反馈改正。达到了对数字电路测试验证的目的。 关键词：测试，功能覆盖率，处理器功能部件，IEEE-754浮点标准 Abstract Test verification is a very important part of digital integrated circuit d