基于覆盖率的集成电路验证.pdfVIP

2009年第 14期 第 301 基于覆盖率的集成电路验证 罗登富，赵建明 (电子科技大学 四JII成都 610054) 摘 要 ：随着集成电路规模和复杂度的逐渐提 高，百万千万 门级 以上的集成 电路验证消耗 了整个芯片开发过程大约 7O 的时间，不仅 需要专职 的团队，而且人数通常是设计 团队的 1．5～2倍 。针对 当前超大规模集成电路验证 的这个瓶颈，在 传统验证平 台的基础上提 出了代码覆盖率和功能覆盖率、随机激励与定向激励结合 的验证方法。代码覆盖率确保代码 的执 行，功能覆盖率确保功能点的覆盖 ，随机与定向激励结合在验证的各个阶段有针对性地编写测试用例 ，三者相互结合实现高 效率验证。此方法在多协议标签交换转发芯片项 目中将验证 时间缩短 了三个月，而且 问题 的收敛速度加快 ，验证 的规格更 可靠。与传统的验证方法相 比，此方法提高了验证效率，缩短 了验证周期，增强了可靠性，对今后的项 目开发有重要借鉴意 义和指导意义 。 关键词 ：芯片验证 ；代码覆盖率 ；功能覆盖率；随机激励 ；定 向激励 中图分类号 ：TN71O 文献标识码：A 文章编号 ：1004—373X(2009)14—1l5～05 IntegratedCircuitVerificationBased onCoverage LUO Dengfu，ZHAOJianming (UniversityofElectronicScienceandTechnologyofChina，Chengdu，610054，China) Abstract：AsthescaleandcomplexityofICsincreasinggradually，verificationofmillionor10 millionVLSIcostsabout 7O timeofwholeIC research．Notonlyprofessionalverificationgroupsareneeded，butalsotheymustbeahalfandoneto twotimesthandesigngroups．BasedonthebottleneckofpresentIC research，methodologyofcodecoverageandfunctionCO— veragedrivenverificationassociatingwithrandom anddirectstimulusisintroducedatthefundamentalofcommontestbench． Codecoveragetoensuretheimplementationofthecode，functioncoveragetoensureimplementationoffunctionpoints，andthe combinationofrandom anddirectstimulustOcodespecialtestcasesatthevariousstagesofverification，thecombinationofthe threegetshighlyefficientverification．Themethodologyshortensthreemonthsofverificationatamulti—protocollabelswi— tchingforwardingproject，speedsuptheconvergenceofproblem，andgetsmorereliablefunctionpoints．Comparingwithcon— ventionalverificationmethodology，itimprovesverificationproductivity，decreasesverificationtime，increasesreliability，and hasreferencemeansandguidancemeansfo