含RAM电路的故障模拟方法研讨.pdfVIP

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电子测量与仪器学报 2005年增刊 含RAM电路的故障模拟方法研究 楚丽娜孙百生 (1北京邮电大学自动化学院北京1000832北京邮电大学北京100083) 摘要:提出了一种用于含RAM电路的故障模拟方法。如果电路有m个目标故障,用于模拟的计算机字长为n位,则该法把 个目标故障的故障效应,称为虚拟故障RAM),每个虚拟故障RAM存储固定的n个故障的故障效应。该方法还扩充了时序电 路故障模拟中关于多事件故障模拟的定义,使之适用于含RAM的电路。并给出了相应的新的多事件故障识别和模拟方法,最 后用实验电路的模拟结果验证了方法的正确性。 关键词: 故障模拟含RAM电路虚拟RAM多事件故障模拟 RAM AFaultSimulationMethodf.oraCircuitwith Study ChuLinaSun Baisheng fault methodforcircuitwithRAM.Itassumesthatthecircuithasm Abstract:Thisintroducesa simulation a faults, paper objective method therealRAMasl+rm/rtlvirtual isthe andthe word forsimulationis this will length n-bit,then map RAMs(1 computer’S call normalsimulationresultof iScalledasvirtualnormal calledasviaualfault store RAM,which RAM:r州xal RAM,which of n thefaulteffectofthisRAMonmobjective virtualfaultRAMcanstorethefaulteffectfixedfaults.What’S faults).each methodalso the ofmulti-eventfaultsimulationin circuitfault orderto more,this extendsdefinition simulation,in sequential apply methodsformulti-eventidentificationand incircuitswithRAM.Inaddition.this andnew fault paperprovidescorresponding thesimulationresults

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