电子产品高加速寿命试验技术与方法研究.pdfVIP

The acceleratedlifetest and ofelectronic process products highly technique 电子产品高加速寿命试验技术与方法 Code：S-027 Paper 张树文王剑邬宁彪 江南计算技术研究所军用印制板质量检测中心 电话：0510 作者简介： 1．张树文，男，江南计算技术研究所高级实验师，主要从事电子产品质量与 可靠性检测工作。 2．王剑，女，江南计算技术研究所工程师，主要从事电子产品质量与可靠性 检测工作。 3．邬宁彪，男，江南计算技术研究所高级工程师，主要从事印制板产品质量 与可靠性检测工作。 摘要：本文介绍了高加速寿命试验和高加速应力筛选试验的基本原理、特点、试验方法及试验步骤， 对高加速寿命试验和高加速应力筛选试验的应用和前景进行了展望。 关键字：HALTHASS工作极限损坏极限应力 introducesthebasic testmethodandtest of Abstract：This characteristics，the paper theories，the process LifeTestand AcceleratedStressScreen．Italso forthe Accelerated Highly Highly opensuponprospects ofthesetwotestmethods． application limitStress Words：HALTHASS limitDestruct Key Operating 359 1、引言 传统的环境模拟试验技术与方法长期以来已成为保障产品可靠性的主要手段，这类试验的特点 是模拟产品使用的实际环境和条件，加上设计余量，以确保可靠性验收与鉴定试验的通过。因此， 环境模拟的真实程度和设计余量的大小便成为两个关键的因素。要提高产品的可靠性就必须对环境 进行精确的模拟和加大设计的余量，但这样一来其试验难度增大，不仅试验周期长、效率低，而且 成本也大幅度增加。 现代电子产品的复杂程度越来越高，发展速度极快，随之而来的可靠性问题也就越来越尖锐， 要发现产品的潜在缺陷并非易事，特别是那些潜在很深的故障或间歇性故障，传统的环境模拟试验 已难以满足这种要求，已远远赶不上现代电子产品发展的步伐。激发试验就是在克服这种传统的环 境模拟试验周期长、效率低、耗费大等缺点的基础上发展起来的一种全新的可靠性试验技术。与环 境模拟试验的思路相反，激发试验不是模拟真实环境，而是对试件施加比产品实际使用条件残酷的 多的环境应力和工作应力，快速激发并清除产品的缺陷，达到提高产品可靠性和缩短产品研制周期 Condra等人研究并在1988年讲授“筛选技术”课程时提出的，即如何采用强化应力激发缺陷的方 法，快速有效地暴露设计上的薄弱环节、剔除制造工艺缺陷的试验技术。并把这种新的试验技术称 Life