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特征X射线的测量与分析 光信息科学与工程系 12307130260 陈祺 特征X射线的产生 当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。 它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴 所 释 放 的 能 量 不 在 原 子 内 被 吸收，而是以辐射形式放出，便产生X 射线荧光，其能量等于两能级之间 的 能 量 差 。因 此 ，X 射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系 X射线特征谱的计算 Kα 线 Kβ 线 Ｋβ线较Kα线波长短，但是由于L层电子向K层跃迁的几率要比M层到K层跃迁的几率大5倍左右，所以Iα/Iβ ≈ 4～5，Kα线谱线较高。 不同元素特征X射线参数表 莫塞莱定律 1913年莫塞莱测量了从Al到Au共38种元素的X射线的K线系，发现各元素发射的K线系波数的平方根与原子序数Z成线性关系。 vKα=Rc(Z－σK)2(1/12－1/22) vLβ=Rc(Z－σL)2(1/22－1/32) 式中R是里德伯常数，Z是原子序数，σ是屏蔽因子，与一电子所在的壳层位置有关。c是光速。他发现各元素σK和σL分别都近似等于1和7.4。对于其他线系则不再适用。  根据莫色莱定律，将实验结果所得到的未知